[发明专利]厚度测定装置在审

专利信息
申请号: 202310012689.9 申请日: 2023-01-05
公开(公告)号: CN116412785A 公开(公告)日: 2023-07-11
发明(设计)人: 泉尾诚治;新井义雄 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G01B17/02 分类号: G01B17/02
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 李丹
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种厚度测定装置,能够对测定对象的厚度进行高精度测定。厚度测定装置装配于内部包含有测定对象的对象物,使用超声波测定所述测定对象的厚度,厚度测定装置具备:多个超声波元件,从所述对象物的表面发送所述超声波,且接受在所述测定对象处反射的反射波,并输出接收信号;以及控制部,控制所述超声波元件,多个所述超声波元件朝向彼此不同的方向发送超声波,所述控制部将所述接收信号的信号强度与预定的阈值作比较,根据所述信号强度比所述阈值大的所述接收信号,测定所述测定对象的厚度。
搜索关键词: 厚度 测定 装置
【主权项】:
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