[发明专利]厚度测定装置在审
| 申请号: | 202310012689.9 | 申请日: | 2023-01-05 |
| 公开(公告)号: | CN116412785A | 公开(公告)日: | 2023-07-11 |
| 发明(设计)人: | 泉尾诚治;新井义雄 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号: | G01B17/02 | 分类号: | G01B17/02 |
| 代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 李丹 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 厚度 测定 装置 | ||
1.一种厚度测定装置,其特征在于,
所述厚度测定装置装配于内部包含有测定对象的对象物,使用超声波测定所述测定对象的厚度,
所述厚度测定装置具备:
多个超声波元件,从所述对象物的表面发送所述超声波,且接受在所述测定对象处反射的反射波,并输出接收信号;以及
控制部,控制所述超声波元件,
多个所述超声波元件朝向彼此不同的方向发送超声波,
所述控制部将所述接收信号的信号强度与预定的阈值作比较,根据所述信号强度比所述阈值大的所述接收信号,测定所述测定对象的厚度。
2.根据权利要求1所述的厚度测定装置,其特征在于,
多个所述超声波元件朝向彼此分离的方向发送所述超声波。
3.根据权利要求2所述的厚度测定装置,其特征在于,
多个所述超声波元件具备沿第一轴线排列的多个所述超声波元件、以及沿与所述第一轴线正交的第二轴线排列的多个所述超声波元件,
将与所述第一轴线及第二轴线正交的轴线作为第三轴线,在包含所述第一轴线及所述第三轴线的第一平面内,沿所述第一轴线排列的多个所述超声波元件朝向彼此分离的方向发送所述超声波,
在包含所述第二轴线及所述第三轴线的第二平面内,沿所述第二轴线排列的多个所述超声波元件朝向彼此分离的方向发送所述超声波。
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