[发明专利]基板检查装置、基板检查方法以及计算机可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202310002690.3 申请日: 2023-01-03
公开(公告)号: CN116429792A 公开(公告)日: 2023-07-14
发明(设计)人: 梶原大介;西山直;富田浩 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: G01N21/956 分类号: G01N21/956
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李靖
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开涉及一种基板检查装置、基板检查方法以及计算机可读存储介质。基板检查装置使用拍摄基板的表面而得到的图像来检查基板,所述基板检查装置具有:保持部(31),其用于保持基板;第一光源部(51),其用于对保持于保持部(31)的基板射出可见光;第二光源部(52),其用于对保持于保持部(31)的基板射出红外光;第一摄像传感器,其接受通过照射可见光而从基板射出的第一反射光,来拍摄关于基板的表面的可见光图像;以及第二摄像传感器,其接受通过照射红外光而从基板射出的第二反射光,来拍摄关于基板的表面的红外光图像。
搜索关键词: 检查 装置 方法 以及 计算机 可读 存储 介质
【主权项】:
暂无信息
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