[发明专利]基板检查装置、基板检查方法以及计算机可读存储介质在审
申请号: | 202310002690.3 | 申请日: | 2023-01-03 |
公开(公告)号: | CN116429792A | 公开(公告)日: | 2023-07-14 |
发明(设计)人: | 梶原大介;西山直;富田浩 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | G01N21/956 | 分类号: | G01N21/956 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李靖 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本公开涉及一种基板检查装置、基板检查方法以及计算机可读存储介质。基板检查装置使用拍摄基板的表面而得到的图像来检查基板,所述基板检查装置具有:保持部(31),其用于保持基板;第一光源部(51),其用于对保持于保持部(31)的基板射出可见光;第二光源部(52),其用于对保持于保持部(31)的基板射出红外光;第一摄像传感器,其接受通过照射可见光而从基板射出的第一反射光,来拍摄关于基板的表面的可见光图像;以及第二摄像传感器,其接受通过照射红外光而从基板射出的第二反射光,来拍摄关于基板的表面的红外光图像。 | ||
搜索关键词: | 检查 装置 方法 以及 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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