[实用新型]一种IC芯片上料检测封装一体机有效

专利信息
申请号: 202223332665.1 申请日: 2022-12-13
公开(公告)号: CN218835257U 公开(公告)日: 2023-04-11
发明(设计)人: 张勇;夏欢 申请(专利权)人: 金动力智能科技(深圳)有限公司
主分类号: B07C5/34 分类号: B07C5/34;B07C5/36;B07C5/38
代理公司: 广州一锐专利代理有限公司 44369 代理人: 金兆松
地址: 518000 广东省深圳市龙华区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种IC芯片上料检测封装一体机,包括支架,支架的顶部设置有呈圆周阵列分布的检测组件,检测组件包括竖直设置于支架顶部的中柱,中柱的外壁设置有呈圆环状的输送环,输送环内部设置有定位旋转装置,以驱使内部工件沿输送环保持轴向转动。该实用新型提供的IC芯片上料检测封装一体机,通过输送环的设置,使工件位于内部进行轴向转动,使检测组件围绕输送环进行设置,构成圆环形状,缩小装置体积,且通过输送环的密封设置,防止外部灰尘掉落于检测组件内部,造成芯片的损坏;还通过各个装置依次的设置,最优化芯片上料检测封装的工作步骤,且通过之间穿插设置的各个盒体,可快速的将良品和次品进行分拣,提高出产的良品率。
搜索关键词: 一种 ic 芯片 检测 封装 一体机
【主权项】:
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