[实用新型]一种液氮温度下的半导体电阻率测量装置有效
申请号: | 202222925515.5 | 申请日: | 2022-11-03 |
公开(公告)号: | CN218824438U | 公开(公告)日: | 2023-04-07 |
发明(设计)人: | 王昕;叶灿明;李俊生;王世进 | 申请(专利权)人: | 广州昆德半导体测试技术有限公司 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067;G01R27/02 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 郑秋松 |
地址: | 511330 广东省广州市增城区新城*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种液氮温度下的半导体电阻率测量装置,该装置包括:安装底板、样品托架、探针模块、滑台模组、固定竖板、第一铟片、第二铟片、第一铜电极、第二铜电极、第一绝缘衬板、第二绝缘衬板和样品加压活动模组;滑台模组与探针模块连接,探针模块设有多个楔形探针,固定竖板依次与第一绝缘衬板、第一铜电极和第一铟片连接,样品加压活动模组与电极固定板连接,电极固定板依次与第二绝缘衬板、第二铜电极和第二铟片连接,第一铟片、第二铟片设于待测样品的端面位置,样品托架和探针模块设于待测样品的晶面位置;本实用新型通过弹簧片给楔形探针加压,在低温下楔形探针与样品良好接触,无需切片制样,快速得到整根单晶的电阻率分布结果。 | ||
搜索关键词: | 一种 液氮 温度 半导体 电阻率 测量 装置 | ||
【主权项】:
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