[实用新型]一种液氮温度下的半导体电阻率测量装置有效

专利信息
申请号: 202222925515.5 申请日: 2022-11-03
公开(公告)号: CN218824438U 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 王昕;叶灿明;李俊生;王世进 申请(专利权)人: 广州昆德半导体测试技术有限公司
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067;G01R27/02
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 郑秋松
地址: 511330 广东省广州市增城区新城*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种液氮温度下的半导体电阻率测量装置,该装置包括:安装底板、样品托架、探针模块、滑台模组、固定竖板、第一铟片、第二铟片、第一铜电极、第二铜电极、第一绝缘衬板、第二绝缘衬板和样品加压活动模组;滑台模组与探针模块连接,探针模块设有多个楔形探针,固定竖板依次与第一绝缘衬板、第一铜电极和第一铟片连接,样品加压活动模组与电极固定板连接,电极固定板依次与第二绝缘衬板、第二铜电极和第二铟片连接,第一铟片、第二铟片设于待测样品的端面位置,样品托架和探针模块设于待测样品的晶面位置;本实用新型通过弹簧片给楔形探针加压,在低温下楔形探针与样品良好接触,无需切片制样,快速得到整根单晶的电阻率分布结果。
搜索关键词: 一种 液氮 温度 半导体 电阻率 测量 装置
【主权项】:
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