[实用新型]一种集成电路芯片测试机有效
| 申请号： | 202222716938.6 | 申请日： | 2022-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN218167857U | 公开（公告）日： | 2022-12-30 |
| 发明（设计）人： | 姚金标 | 申请（专利权）人： | 武汉三合成科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344;B07C5/02;B07C5/38;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市武汉东湖新技术开发*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型属于芯片测试设备领域，具体涉及一种集成电路芯片测试机，包括底座，所述底座上方固定设置有夹装承载机构，所述夹装承载机构前后侧固定设置有测试机构。由旋转电机与槽杆连接，利用旋转电机的输出端顺时针旋转作用，从而带动槽杆进行转动，从而使槽杆一侧的槽轮转动，由于在夹装承载机构内设置槽杆与槽轮配合，当测试机检测到合格的集成电路芯片时，顺时针旋转承载台，使得芯片进入传输带上方的第二放置槽内，当测试机检测到不合格的集成电路芯片时，旋转电机逆时针会使得承载台侧翻，将不合格的集成电路芯片下放到不合格芯片装载台内，利用第二液压缸与第二伸缩杆配合，带动合格芯片装载台将不合格芯片带出，避免人工检测，自动化高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 芯片 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
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