[实用新型]一种集成电路芯片测试机

说明书

本实用新型属于芯片测试设备领域，具体涉及一种集成电路芯片测试机，包括底座，所述底座上方固定设置有夹装承载机构，所述夹装承载机构前后侧固定设置有测试机构。由旋转电机与槽杆连接，利用旋转电机的输出端顺时针旋转作用，从而带动槽杆进行转动，从而使槽杆一侧的槽轮转动，由于在夹装承载机构内设置槽杆与槽轮配合，当测试机检测到合格的集成电路芯片时，顺时针旋转承载台，使得芯片进入传输带上方的第二放置槽内，当测试机检测到不合格的集成电路芯片时，旋转电机逆时针会使得承载台侧翻，将不合格的集成电路芯片下放到不合格芯片装载台内，利用第二液压缸与第二伸缩杆配合，带动合格芯片装载台将不合格芯片带出，避免人工检测，自动化高。

技术领域

本实用新型属于芯片测试设备领域，具体涉及一种集成电路芯片测试机。

背景技术

集成电路芯片是包括一硅基板、至少一电路、一固定封环、一接地环及至少一防护环的电子元件。目前许多芯片在出厂时需要进行测试，基于FPGA对集成电路芯片件测试是常用到的一种测试方式之一，集成电路的好坏检测：集成电路的好坏可以检测引脚电阻值、引脚电压值和引脚波形等相关的参量，引脚电阻值可以反映集成电路是否损坏的检测参量之一，集成电路引脚电阻值可以外为在线电阻值和非在线电阻值。

经检索，中国专利申请号为CN202121413752.2的中国实用新型专利申请文件公开了一种方便分拣的集成电路芯片测试机，包括底座，所述底座的下端四角均固定连接有支撑柱，所述支撑架的上端前部与上端后部均开有滑槽，所述支撑架的右端上部固定连接有移动装置，所述移动装置的下端固定连接有分拣装置，所述底座的上端中部固定连接有检测板，所述检测板的上端中部固定连接有若干个探针母板，所述检测板的前端与后端均固定连接有稳固板，两个所述稳固板的前端与后端均固定连接有夹持装置，所述底座的前端右部固定连接有控制箱。

针对上述中的相关技术，该装置在对芯片测试完成后，需要对治具上的集成电路芯片进行分拣，将测试合格与测试不合格的的芯片分开存放。但测试设备无法在治具或者芯片上进行标记，在对同一治具上的芯片进行分拣时，不容易区分合格芯片与不合格芯片，导致分拣混乱，所以亟需设计一种集成电路芯片测试机来处理这些问题。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型公开了一种集成电路芯片测试机。

本实用新型通过以下技术方案来实现上述目的：

一种集成电路芯片测试机，包括底座，所述底座上方固定设置有夹装承载机构，所述夹装承载机构前后侧固定设置有测试机构。

所述夹装承载机构包括固定设置在所述底座上方的第二开槽，所述第二开槽上方设置有承载台，所述承载台上方等距固定设置有第一放置槽，所述承载台一端设置有连接轴，所述承载台另一侧固定设置有竖台，所述连接轴另一端连接有槽轮，所述槽轮一侧设置有槽杆，所述槽杆另一端固定连接在旋转电机的动力输出端，所述底座前侧上方固定设置有第二液压缸，所述第二液压缸的动力伸缩端滑动连接第二伸缩杆，所述第二伸缩杆另一端固定连接有不合格芯片装载台，所述底座下方固定设置有四组传输带连接轴支撑板，且固定安装在所述第二开槽前后侧，四组所述传输带连接轴支撑板内旋转支撑有传输带连接轴，所述传输带连接轴外表面设置有传输带，所述传输带连接轴一端固定设置在第三电机动力输出端，所述传输带上下方等距固定设置有第二放置槽。

优选地，所述测试机构包括固定设置在所述底座上方的立柱，所述立柱一侧贯穿开设有第一开槽，所述第一开槽内竖向设置有第一滚珠丝杠，所述第一滚珠丝杠一端固定连接在第一电机的动力输出端，所述第一滚珠丝杠外表面活动连接有第一滚珠丝杠螺母台，所述第一滚珠丝杠螺母台相对面横向设置有连接台，所述连接台上方横向设置有第二滚珠丝杠，所述第二滚珠丝杠外表面活动连接有第二滚珠丝杠螺母台，所述第二滚珠丝杠一端固定连接在第二电机的动力输出端，所述第二滚珠丝杠螺母台上方开设有凹槽，所述凹槽内固定设置有第一液压缸，所述第一液压缸的动力伸缩端滑动连接有第一伸缩杆，所述第一伸缩杆另一端固定设置有测试机。