[实用新型]一种用于芯片制造中抽检装置有效

专利信息
申请号: 202222250853.3 申请日: 2022-08-25
公开(公告)号: CN218350435U 公开(公告)日: 2023-01-20
发明(设计)人: 任昌明;吴文;蒋学强;牟利兰;杜方德 申请(专利权)人: 广安市亿格电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 成都睿道专利代理事务所(普通合伙) 51217 代理人: 胡可
地址: 638100 四川省广*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型提供一种用于芯片制造中抽检装置,涉及芯片质量抽检技术领域,包括垫板,所述垫板的顶部一侧靠近后侧位置固定连接有第一电动推杆,且垫板的顶部另一侧固定连接有安装架,所述第一电动推杆的伸缩端固定连接有L型块,所述安装架的内顶部一侧固定连接有第二电动推杆,且安装架的内顶部滑动连接有滑块,通过控制第一电动推杆伸出的距离实现L形块的位置调整,进而实现不同尺寸的芯片放置在圆柱块顶部时,芯片表面的中心与圆柱块的中心重合,相应的通过旋转拧松调节螺栓,便于实现滑块带动第三电动推杆移动,进而实现电极片的位置调整至相应尺寸的芯片四周引脚位置。
搜索关键词: 一种 用于 芯片 制造 抽检 装置
【主权项】:
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