[实用新型]测试机构有效

专利信息
申请号: 202221383441.0 申请日: 2022-06-02
公开(公告)号: CN217846483U 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: 刘利波;姬亚平;彭外珠;何选民 申请(专利权)人: 深圳市标谱半导体股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/02
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 贺鹏
地址: 518000 广东省深圳市宝安区航城街道*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本申请提供了一种测试机构,用于测试产品,产品的两端分别设有第一导电件和第二导电件,该测试机构包括测试座,用于支撑产品;吹气块,安装于测试座上;第一测试导电片,安装于测试座的一端,用于与第一导电件抵接;第二测试导电片,安装于测试座的另一端,用于与第二导电件抵接。本申请通过在测试座上分别安装吹气块、第一测试导电片和第二测试导电片,当产品放置于测试座上时,第一测试导电片可与第一导电件抵接,第二测试导电片可与第二导电件抵接,从而实现与产品的电性连通,以实现对产品的测试;同时,吹气块可向产品吹气以实现降温,从而实现产品的测试及冷却的同步进行,减少产品的冷却等待时长,有助于提高测试效率。
搜索关键词: 测试 机构
【主权项】:
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