[实用新型]测试机构有效

专利信息
申请号: 202221383441.0 申请日: 2022-06-02
公开(公告)号: CN217846483U 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: 刘利波;姬亚平;彭外珠;何选民 申请(专利权)人: 深圳市标谱半导体股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/02
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 贺鹏
地址: 518000 广东省深圳市宝安区航城街道*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测试 机构
【说明书】:

本申请提供了一种测试机构,用于测试产品,产品的两端分别设有第一导电件和第二导电件,该测试机构包括测试座,用于支撑产品;吹气块,安装于测试座上;第一测试导电片,安装于测试座的一端,用于与第一导电件抵接;第二测试导电片,安装于测试座的另一端,用于与第二导电件抵接。本申请通过在测试座上分别安装吹气块、第一测试导电片和第二测试导电片,当产品放置于测试座上时,第一测试导电片可与第一导电件抵接,第二测试导电片可与第二导电件抵接,从而实现与产品的电性连通,以实现对产品的测试;同时,吹气块可向产品吹气以实现降温,从而实现产品的测试及冷却的同步进行,减少产品的冷却等待时长,有助于提高测试效率。

技术领域

本申请属于检测技术领域,更具体地说,是涉及一种测试机构。

背景技术

电子元器件经塑封后形成产品,产品在出产前需要对其性能进行测试,进而提高出产良率。目前,由于塑封后的产品的温度高,无法一经塑封后就直接进行测试,需要将产品放置于通风处,等待其自然冷却后再进行测试,这就导致产品的测试等待时间长,影响测试效率。

实用新型内容

本申请实施例的目的在于提供一种测试机构,以解决相关技术中存在的:产品经塑封后的温度高而需要等待较长的冷却时间,从而影响测试效率的问题。

为实现上述目的,本申请实施例采用的技术方案是:

提供一种测试机构,用于测试产品,所述产品的两端分别设有第一导电件和第二导电件,所述测试机构包括:

测试座,用于支撑所述产品;

吹气块,安装于所述测试座上,用于对所述产品吹气降温;

第一测试导电片,安装于所述测试座的一端,用于与所述第一导电件抵接;

第二测试导电片,安装于所述测试座的另一端,用于与所述第二导电件抵接。

此结构,通过在测试座上分别安装吹气块、第一测试导电片和第二测试导电片,当产品放置于测试座上时,第一测试导电片可与第一导电件抵接,第二测试导电片可与第二导电件抵接,从而实现与产品的电性连通,以实现对产品的测试;同时,吹气块可向产品吹气以实现降温,从而实现产品的测试及冷却的同步进行,减少产品的冷却等待时长,有助于提高测试效率。

在一个实施例中,所述测试座包括测试底座和用于支撑所述产品的测试支撑座,所述测试支撑座上开设有用于容置所述产品的容置槽,所述测试支撑座安装于所述测试底座上;所述吹气块安装于所述测试底座上并正对于所述容置槽设置,所述第一测试导电片和所述第二测试导电片分别安装于所述测试底座上,所述测试支撑座设于所述第一测试导电片和所述第二测试导电片之间。

此结构,通过容置槽可实现对产品的快速定位安装。将测试座设置为测试底座和测试支撑座,可根据不同的产品更换对应的测试支撑座,以适配于不同的产品。

在一个实施例中,所述测试支撑座为由陶瓷材料制成的绝缘体。

此结构,陶瓷材料具有耐高温和绝缘性能,从而不受产品的高温影响,也能对产品进行绝缘保护,提高对产品的测试效果。

在一个实施例中,所述吹气块的数量为两个,两个所述吹气块分别设于所述测试支撑座的两侧。

此结构,通过设置两个吹气块可加速对产品的降温,缩短降温时长。

在一个实施例中,所述测试机构还包括用于检测所述测试支撑座上是否有所述产品的两个对射光纤和分别与两个所述对射光纤电连接的光纤传感器,两个所述对射光纤分别安装于所述测试底座上,两个所述对射光纤分别设于所述测试支撑座的两侧,所述光纤传感器安装于所述测试底座上。

此结构,通过两个对射光纤的导通与断开,可通过光纤传感器判定测试座上是否有产品。

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