[实用新型]一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置有效
申请号: | 202220731334.6 | 申请日: | 2022-03-31 |
公开(公告)号: | CN216954457U | 公开(公告)日: | 2022-07-12 |
发明(设计)人: | 肖高磊;陈文鹏;万浚 | 申请(专利权)人: | 深圳市飞航精工科技有限公司 |
主分类号: | G01B21/08 | 分类号: | G01B21/08;B25H1/06;B25H1/10 |
代理公司: | 北京奥肯律师事务所 11881 | 代理人: | 张奔 |
地址: | 518101 广东省深圳市宝*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置,包括支架,所述支架的底端安装有封片,所述支架的外部设有滑杆,所述滑杆的中心位置设有安装槽,所述安装槽的外部螺纹连接有螺栓,所述安装槽的内侧通过螺栓安装有测量探头,所述支架与滑杆之间设有限位结构,所述支架的后部设有安装结构,所述限位结构包括有压柄、滑槽和弹簧,所述压柄贯穿在支架的顶端,所述滑槽开设在支架的内部,所述弹簧连接在封片的上部位于滑槽的内侧,所述滑杆与滑槽滑动连接,所述压柄的底端与滑杆固定连接。本实用新型所述的一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置,有效提高测量精度,而且操作方便、结构简单。 | ||
搜索关键词: | 一种 具有 限位 结构 氧化 厚度 测量 装置 | ||
【主权项】:
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