[实用新型]一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置有效

专利信息
申请号: 202220731334.6 申请日: 2022-03-31
公开(公告)号: CN216954457U 公开(公告)日: 2022-07-12
发明(设计)人: 肖高磊;陈文鹏;万浚 申请(专利权)人: 深圳市飞航精工科技有限公司
主分类号: G01B21/08 分类号: G01B21/08;B25H1/06;B25H1/10
代理公司: 北京奥肯律师事务所 11881 代理人: 张奔
地址: 518101 广东省深圳市宝*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 具有 限位 结构 氧化 厚度 测量 装置
【说明书】:

实用新型公开了一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置,包括支架,所述支架的底端安装有封片,所述支架的外部设有滑杆,所述滑杆的中心位置设有安装槽,所述安装槽的外部螺纹连接有螺栓,所述安装槽的内侧通过螺栓安装有测量探头,所述支架与滑杆之间设有限位结构,所述支架的后部设有安装结构,所述限位结构包括有压柄、滑槽和弹簧,所述压柄贯穿在支架的顶端,所述滑槽开设在支架的内部,所述弹簧连接在封片的上部位于滑槽的内侧,所述滑杆与滑槽滑动连接,所述压柄的底端与滑杆固定连接。本实用新型所述的一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置,有效提高测量精度,而且操作方便、结构简单。

技术领域

本实用新型涉及氧化膜厚度测量领域,特别涉及一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置。

背景技术

在工业加工中,工件表面会产生氧化膜,为了更精准的加工以及便于了解工件性能通常需要对氧化膜的厚度进行测量,测量的方式有多种,其中就需要使用到覆层测量仪,主要有仪器主体和测量探头组成;

但现有的氧化膜厚度测量装置在使用时存在着一定的不足之处有待改善,现有的氧化膜厚度测量装置不具备限位功能,通常测量过程中均采用手持的方式进行操作测量探头,探头稳定性差,测量精度低下。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置,可以有效解决背景技术中:现有的氧化膜厚度测量装置不具备限位功能,通常测量过程中均采用手持的方式进行操作测量探头,探头稳定性差,测量精度低下的技术问题。

为实现上述目的,本实用新型采取的技术方案为:

一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置,包括支架,所述支架的底端安装有封片,所述支架的外部设有滑杆,所述滑杆的中心位置设有安装槽,所述安装槽的外部螺纹连接有螺栓,所述安装槽的内侧通过螺栓安装有测量探头,所述支架与滑杆之间设有限位结构,所述支架的后部设有安装结构。

作为本实用新型的进一步方案,所述限位结构包括有压柄、滑槽和弹簧,所述压柄贯穿在支架的顶端,所述滑槽开设在支架的内部,所述弹簧连接在封片的上部位于滑槽的内侧。

作为本实用新型的进一步方案,所述滑杆与滑槽滑动连接,所述压柄的底端与滑杆固定连接。

作为本实用新型的进一步方案,所述安装结构包括有安装座、T形槽、丝杆、夹座和挡块,所述安装座固定安装在支架的后部,所述T形槽开设在安装座的后表面,所述丝杆贯穿在T形槽的内部,所述夹座与T形槽滑动连接,所述挡块安装在夹座的底部。

作为本实用新型的进一步方案,所述夹座与T形槽之间设有T形块,所述丝杆与T形块螺纹连接。

作为本实用新型的进一步方案,所述夹座呈中空式结构,且夹座设有两个,两个夹座对称设置。

与现有技术相比,本实用新型具有如下有益效果:本实用新型中,通过设置限位结构,在测量氧化膜厚度的时候,将封片接触在工件表面,然后施力按压压柄,压柄推动滑杆通过滑槽滑动,同时弹簧受力收缩,使得测量探头接触到工件、设备表面,进行氧化膜的厚度测量工作,当压柄失去压力的时候,弹簧扩张,推动压柄和滑杆复位,使得测量探头复位,相比传统手持测量探头进行测量的方式,使得探头更加稳定,有效提高测量精度,而且操作方便、结构简单;

通过设置安装结构,覆层测量仪放置到安装座的后部位于两个夹座之间,然后转动丝杆,丝杆带动两个夹座同时以相对的方向移动,从而将覆层测量仪夹持固定,便于同时在支架上安装覆膜测量仪,便于与测量探头进行配合使用,配合安装槽和螺栓,方便将覆膜测量仪以及测量探头与支架和滑杆进行安装,提高使用的便捷性。

附图说明

图1为本实用新型一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置的整体结构示意图;

图2为本实用新型一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置的爆炸图;

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