[实用新型]一种平面芯片电感无损测试装置有效
| 申请号： | 202220655263.6 | 申请日： | 2022-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN217238213U | 公开（公告）日： | 2022-08-19 |
| 发明（设计）人： | 程晨;谭天波;韩玉成;李德银;庞锦标;贾朋乐 | 申请（专利权）人： | 中国振华集团云科电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02;G01R27/26;G01R15/00;G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 贵阳中工知识产权代理事务所 52106 | 代理人： | 杨成刚 |
| 地址： | 550018 贵州省贵*** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 一种平面芯片电感无损测试装置，属于电子元器件测试领域。所述测试装置包括测试仪、高频测试夹具、测试定位模块、校准件、微带线。测试定位模块通过微带线与高频测试夹具连接，高频测试夹具通过另一微带线与所述测试仪连接，校准件与测试定位模块连接。测试定位模块包括模块基片、定位腔、底面电极、通孔、通孔金属化填充、定位腔表电极；校准件包括校准件基片、校准件表电极；校准件与定位腔的形状、结构及尺寸一致。解决了现有技术不能用于测试平面结构芯片电感的问题。广泛应用于小尺寸平面芯片电感测试，或其他平面型两端口电子器件电性能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 平面 芯片 电感 无损 测试 装置 | ||
【主权项】：
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