[实用新型]一种芯片模拟按压测试治具有效

专利信息
申请号: 202220299524.5 申请日: 2022-02-15
公开(公告)号: CN217305424U 公开(公告)日: 2022-08-26
发明(设计)人: 陈宗廷;陈建光 申请(专利权)人: 深圳市耀星微电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04;H01L21/67;B08B5/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市龙华区观*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种芯片模拟按压测试治具,包括测试台,所述测试台上转动连接有第一转轴,且第一转轴的上端固定连接有导料座,所述测试台上设置有与第一转轴相配合的驱动机构,所述导料座上开设有多个呈环形分布的放置槽。本实用新型涉及芯片测试技术领域,通过设置的驱动机构,可以将各个芯片导送至吸尘罩下方,吸尘罩在吸尘器的配合下,可以对各个芯片上附着的颗粒杂质进行有效清除,避免了人工清理的繁琐和劳力损耗,另外驱动机构可以将各个清理完成的芯片导送至测试压块下方进行按压测试,使得清理工序和按压工序得到衔接,避免了人工导送的繁琐,且有效的提高了工作效率。
搜索关键词: 一种 芯片 模拟 按压 测试
【主权项】:
暂无信息
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