[实用新型]一种芯片模拟按压测试治具有效

专利信息
申请号: 202220299524.5 申请日: 2022-02-15
公开(公告)号: CN217305424U 公开(公告)日: 2022-08-26
发明(设计)人: 陈宗廷;陈建光 申请(专利权)人: 深圳市耀星微电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04;H01L21/67;B08B5/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市龙华区观*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 芯片 模拟 按压 测试
【说明书】:

实用新型公开了一种芯片模拟按压测试治具,包括测试台,所述测试台上转动连接有第一转轴,且第一转轴的上端固定连接有导料座,所述测试台上设置有与第一转轴相配合的驱动机构,所述导料座上开设有多个呈环形分布的放置槽。本实用新型涉及芯片测试技术领域,通过设置的驱动机构,可以将各个芯片导送至吸尘罩下方,吸尘罩在吸尘器的配合下,可以对各个芯片上附着的颗粒杂质进行有效清除,避免了人工清理的繁琐和劳力损耗,另外驱动机构可以将各个清理完成的芯片导送至测试压块下方进行按压测试,使得清理工序和按压工序得到衔接,避免了人工导送的繁琐,且有效的提高了工作效率。

技术领域

本实用新型属于芯片测试技术领域,尤其涉及一种芯片模拟按压测试治具。

背景技术

触控芯片是指端面触摸芯片可与摩擦衬片和摩擦材料层做成一体的金属片或非金属片,泛指所有的电子元器件,是在硅板上集合多种电子元器件实现某种特定功能的电路模块。

触控芯片在生产的过程中,需要通过测试冶具对触控芯片进行模拟按压测试,传统的测试冶具功能较为单一,不能对芯片上可能附着的颗粒杂质进行有效处理,因此常需要人工对芯片上可能附着的颗粒杂质进行清理,以避免按压过程中颗粒杂质硌伤芯片,但是人工清理较为繁琐且耗费人力。

为此,我们提出一种芯片模拟按压测试治具解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决上述的问题,而提出的一种芯片模拟按压测试治具。

为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:

一种芯片模拟按压测试治具,包括测试台,所述测试台上转动连接有第一转轴,且第一转轴的上端固定连接有导料座,所述测试台上设置有与第一转轴相配合的驱动机构,所述导料座上开设有多个呈环形分布的放置槽,所述放置槽的两侧内壁均固定连接有两个电磁伸缩机构,且两个电磁伸缩机构的输出端共同固定连接有夹块,所述测试台上固定连接有支撑架,且支撑架上安装有第一气缸、吸尘器和第二气缸,所述第一气缸的输出端固定连接有两个与放置槽相对应的测试压块,所述吸尘器的吸尘端连通有与放置槽相对应的吸尘罩,且第二气缸的输出端与吸尘罩固定连接。

优选地,所述驱动机构由两个同步轮和步进电机组成,所述测试台上开设有驱动腔,且驱动腔中转动连接有第二转轴,所述第一转轴的下端延伸至驱动腔中设置并与其中一个同步轮固定套接,且另一个同步轮与第二转轴固定套接,两个所述同步轮之间通过同步带传动连接,且第二转轴与步进电机传动连接。

优选地,所述电磁伸缩机构由滑座、电磁块、永磁块、复位弹簧和抵杆组成,所述滑座固定设置于放置槽的内壁上,且电磁块嵌设于滑座中设置,所述电磁块通过多个复位弹簧与永磁块固定连接,所述永磁块与滑座滑动连接,且抵杆与永磁块固定连接,所述抵杆远离永磁块的一端与对应的夹块固定连接。

优选地,所述导料座的下侧固定连接有多个支撑块,且测试台上开设有与各个支撑块相配合的环形滑槽。

优选地,所述第一气缸的输出端固定连接有压板,且测试压块与压板螺纹连接。

优选地,所述吸尘器的吸尘端通过波纹管与吸尘罩连通。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果为:

1、通过设置的驱动机构,可以将各个芯片导送至吸尘罩下方,吸尘罩在吸尘器的配合下,可以对各个芯片上附着的颗粒杂质进行有效清除,避免了人工清理的繁琐和劳力损耗,另外驱动机构可以将各个清理完成的芯片导送至测试压块下方进行按压测试,使得清理工序和按压工序得到衔接,避免了人工导送的繁琐,且有效的提高了工作效率。

2、通过设置的电磁伸缩机构可以控制夹块进行伸缩,便于对放置的芯片进行固定或解锁,通过设置的第二气缸和波纹管的配合,可以控制吸尘罩与放置槽间的间距,使得吸尘罩可以更好的吸取芯片上附着的颗粒杂质,通过设置的支撑块和环形滑槽的配合,可以给予导料座以支撑,且不会影响导料座的转动。

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