[发明专利]一种箔条静电荷电特性测试方法在审
| 申请号： | 202211558355.3 | 申请日： | 2022-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN116008684A | 公开（公告）日： | 2023-04-25 |
| 发明（设计）人： | 石国昌;李炜昕;廖意;谢兵;陈亚南 | 申请（专利权）人： | 上海无线电设备研究所 |
| 主分类号： | G01R29/24 | 分类号： | G01R29/24 |
| 代理公司： | 上海元好知识产权代理有限公司 31323 | 代理人： | 张静洁;包姝晴 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种箔条静电荷电特性测试方法，其包含：步骤S1：搭建外场条件下箔条静电荷电特性试验系统；步骤S2：根据箔条静电荷电特性试验系统，建立三维坐标系；步骤S3：箔条发射模块远程控制箔条弹发射，所述静电监测模块和辅助监测模块同步开展测试记录；步骤S4：测量获取箔条的发射初始状态、扩散状态及飘落状态的静电场信息和运动轨迹；步骤S5：分别选取箔条发射初始状态、扩散状态及最终飘落状态阶段对应的一个典型轨迹坐标点；步骤S6：获取不同位置坐标下的静电场测试结果，建立位置坐标‑静电场矩阵；步骤S7：计算获取箔条的静电荷电特性。本发明可以直接获取箔条在发射后不同阶段的静电荷电量信息，为抗箔条干扰的性能分析提供数据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 箔条 静电荷 特性 测试 方法 | ||
【主权项】：
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