[发明专利]一种箔条静电荷电特性测试方法在审
| 申请号: | 202211558355.3 | 申请日: | 2022-12-06 |
| 公开(公告)号: | CN116008684A | 公开(公告)日: | 2023-04-25 |
| 发明(设计)人: | 石国昌;李炜昕;廖意;谢兵;陈亚南 | 申请(专利权)人: | 上海无线电设备研究所 |
| 主分类号: | G01R29/24 | 分类号: | G01R29/24 |
| 代理公司: | 上海元好知识产权代理有限公司 31323 | 代理人: | 张静洁;包姝晴 |
| 地址: | 201109 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 箔条 静电荷 特性 测试 方法 | ||
本发明提供一种箔条静电荷电特性测试方法,其包含:步骤S1:搭建外场条件下箔条静电荷电特性试验系统;步骤S2:根据箔条静电荷电特性试验系统,建立三维坐标系;步骤S3:箔条发射模块远程控制箔条弹发射,所述静电监测模块和辅助监测模块同步开展测试记录;步骤S4:测量获取箔条的发射初始状态、扩散状态及飘落状态的静电场信息和运动轨迹;步骤S5:分别选取箔条发射初始状态、扩散状态及最终飘落状态阶段对应的一个典型轨迹坐标点;步骤S6:获取不同位置坐标下的静电场测试结果,建立位置坐标‑静电场矩阵;步骤S7:计算获取箔条的静电荷电特性。本发明可以直接获取箔条在发射后不同阶段的静电荷电量信息,为抗箔条干扰的性能分析提供数据。
技术领域
本发明属于目标特性测试技术领域,具体涉及一种箔条静电荷电特性测试方法。
背景技术
面对日益复杂的电子对抗环境,现有的很多设备明确提出了抗箔条干扰需求。箔条干扰的出现对传统的无线电探测提出了严峻的挑战,现有设备的效能也不可避免地受到限制。静电特性是目标的固有属性,飞行过程中的摩擦起电以及尖端放电效应无法避免。静电探测主要是通过检测目标静电感应场的变化获取目标信息。因此,从理论上讲,静电探测可以有效克服传统无线电探测电磁环境适应性差、易受箔条云干扰等缺陷。为了进一步验证静电探测抗箔条干扰的性能以及分析箔条对静电探测的影响规律,需要有效获取箔条的静电荷电等特性,即箔条发射后的静电带电量。
目前,针对箔条特性的研究集中于电磁散射特性的研究,在其静电特性方面研究较少。同时由于箔条因外流场气动、个体间碰撞、失稳等多种来自纵向平面与横向平面的不确定因素,导致其运动特性不一、随机现象多,与空气摩擦碰撞状态难以估计,箔条自身静电特性通过理论分析和计算的手段获取难度较大。因此,亟需提出一种箔条静电荷电特性测试方法。
发明内容
本发明的目的是提供一种箔条静电荷电特性测试方法,以解决静电探测分析时箔条荷电特性输入缺失的问题,为现代化设备的抗箔条干扰的性能分析和验证提供数据支撑。
为实现上述目的,本发明提供一种箔条静电荷电特性测试方法,其包含:步骤S1:搭建外场条件下箔条静电荷电特性试验系统;所述试验系统包括:静电监测模块,其设置在箔条发射路径的下方,用于监测箔条不同阶段的静电场信息;箔条发射模块,用于控制箔条发射,以模拟产生箔条干扰设备的情况;辅助监测模块,其设置在与所述静电监测模块的相对一侧,用于监测箔条发射后的扩散过程;步骤S2:根据步骤S1搭建的箔条静电荷电特性试验系统,建立三维坐标系;步骤S3:箔条发射模块远程控制箔条弹发射,所述静电监测模块和辅助监测模块同步开展测试记录;步骤S4:测量获取箔条的发射初始状态、扩散状态及飘落状态的静电场信息和运动轨迹;步骤S5:分别选取箔条发射初始状态、扩散状态及最终飘落状态阶段对应的一个典型轨迹坐标点,并引入时间数据;步骤S6:获取不同位置坐标下的静电场测试结果,建立位置坐标-静电场矩阵;步骤S7:计算获取箔条的静电荷电特性。
优选的,所述静电监测模块包括:静电传感器,其设置在箔条发射路径的侧方,监测箔条发射后自身产生的静电场;静电场测试设备,其与所述静电传感器通信连接,用于接收静电传感器监测的静电场信息,将静电场信息赋予时间信息;静电测量系统,其与所述静电场测试设备通信连接,用于存储包含有时间信息的静电场信息。
优选的,所述箔条发射模块包括:箔条弹发射装置,其设置有吊挂结构,该吊挂结构上挂设有试验箔条;箔条弹发射地面控制设备,其与箔条弹发射装置通信连接,用于发送箔条发射指令。
优选的,所述辅助监测模块包括:箔条运动监测系统,用于获取箔条在扩散过程中的扩散轨迹;所述箔条运动监测系统包括高速摄像机和红外成像仪;全站仪,用于测量所布设静电场传感器位置信息;
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