[发明专利]确定纳米光刻技术工艺窗口的方法在审
申请号: | 202211532593.7 | 申请日: | 2022-11-29 |
公开(公告)号: | CN115755540A | 公开(公告)日: | 2023-03-07 |
发明(设计)人: | 刘丽红;韦亚一;董立松;张利斌;丁虎文 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667 | 代理人: | 苑晨超 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种确定纳米光刻技术工艺窗口的方法,所述方法包括:依据预定第一关键尺寸的单沟槽或单线条成像模型进行成像,获取多个聚焦值对应的第一光强分布曲线;依据预定第二关键尺寸的多线条成像模型进行成像,获取多个聚焦值对应的第二光强分布曲线;依据所述第一光强分布曲线和所述第二光强分布曲线,分别获取第一泊松曲线和第二泊松曲线;依据第一泊松曲线和第二泊松曲线,分别获取第一工艺窗口和第二工艺窗口;将所述第一工艺窗口和第二工艺窗口的交集部分,确定为目标工艺窗口。本发明提供的确定纳米光刻技术工艺窗口,能够通过光强曲线经过较少的计算量得到适用的工艺窗口,并有效对工艺窗口进行验证。 | ||
搜索关键词: | 确定 纳米 光刻 技术 工艺 窗口 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202211532593.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:对接锁紧装置及其对接方法
- 下一篇:一种数控车床真空吸盘工装治具