[发明专利]运算放大器通道性能的测试装置和系统在审
| 申请号： | 202211525670.6 | 申请日： | 2022-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN115856574A | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 夏江;邱宝军;吕宏峰;刘鹏;徐军军;罗捷;刘竞升;王庆灼 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 左帮胜 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种运算放大器通道性能的测试装置及系统。该测试装置包括短接装置和两个以上的测试电路；测试电路包括信号输入端、信号输出端和信号检测端；信号输出端用于输出激励信号至对应的待测试通道，信号检测端用于接收待测试通道的输出信号。当运算放大器的待测试通道为多个时，短接装置能够快速地将多个待测试通道所接入的测试电路进行串接，若最后的输出信号异常，将多个待测试通道进行分组，通过短接装置将每组对应的测试电路串接后，分组进行检测，定位出异常通道所在的小组后还可以继续分组、串接、检测，从而实现对多个通道性能的高效检测，在检测出异常时能够快速缩小异常通道范围，快速定位，测试效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 运算放大器 通道 性能 测试 装置 系统 | ||
【主权项】：
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