[发明专利]运算放大器通道性能的测试装置和系统

说明书

本申请涉及一种运算放大器通道性能的测试装置及系统。该测试装置包括短接装置和两个以上的测试电路；测试电路包括信号输入端、信号输出端和信号检测端；信号输出端用于输出激励信号至对应的待测试通道，信号检测端用于接收待测试通道的输出信号。当运算放大器的待测试通道为多个时，短接装置能够快速地将多个待测试通道所接入的测试电路进行串接，若最后的输出信号异常，将多个待测试通道进行分组，通过短接装置将每组对应的测试电路串接后，分组进行检测，定位出异常通道所在的小组后还可以继续分组、串接、检测，从而实现对多个通道性能的高效检测，在检测出异常时能够快速缩小异常通道范围，快速定位，测试效率高。

技术领域

本申请涉及通信技术领域，特别是涉及一种运算放大器通道性能的测试装置及系统。

背景技术

运算放大器在电路中主要实现积分、微分、加减乘除、对数、指数等功能，常用于精密测量、电源控制、通信、信息处理等领域，其在电路中具有重要地位，对运算放大器的性能进行测试也尤为重要。

一般而言，开展运算放大器测试需要借助外部仪器，由直流电源为运算放大器供电，由信号发生器为运算放大器提供输入激励，运算放大器输出后，用示波器检测输出信号的质量，从而判断当前检测的通道的性能。但是，当运算放大器为多通道输出时，需要对单个通道逐个进行测试，这就使得测试总时间长，测试效率低。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高多通道运算放大器的测试效率的运算放大器通道性能的测试装置及系统。

一种运算放大器通道性能的测试装置，包括短接装置和两个以上的测试电路；

每一所述测试电路用于接入待测运算放大器的一个通道，所述测试电路包括信号输入端、信号输出端和信号检测端；所述信号输出端用于输出激励信号至对应的待测试通道，所述信号检测端用于接收所述待测试通道的输出信号；

在对所述待测运算放大器的两个以上的通道进行性能测试时，各待测试通道所接入的测试电路通过所述短接装置依次连接；其中，位于首端的所述测试电路的信号输入端接入信号发生设备，位于末端的所述测试电路的信号检测端连接信号检测设备，以检测各待测试通道是否异常；所述短接装置连接上一测试电路的信号检测端，以及下一测试电路的信号输入端。

在其中一个实施例中，所述测试电路包括第一电阻、第二电阻和第一短接接口；所述第一电阻的第一端连接所述信号输入端，所述第一电阻的第二端连接所述信号输出端，所述信号输出端用于连接待测试通道的同相输入端；所述第一短接接口的两端分别用于连接所述待测试通道的反相输入端和输出端；所述第二电阻的第一端连接所述信号检测端，所述信号检测端用于连接所述待测试通道的输出端，所述第二电阻的第二端接地；其中，所述信号输入端和所述信号检测端用于连接所述信号检测设备。

在其中一个实施例中，所述测试电路还包括第三电阻和第四电阻；所述第三电阻的第一端和所述第四电阻的第一端用于与所述待测试通道的反相输入端连接，所述第三电阻的第二端接地，所述第四电阻的第二端用于连接所述待测试通道的输出端。

在其中一个实施例中，所述测试电路还包括用于接入测试电源的电源输入端，所述电源输入端连接所述待测试通道的电源端。

在其中一个实施例中，所述电源输入端包括正极输入端和负极输入端；所述正极输入端连接所述测试电源的输出正极，以及用于连接待测试通道的正电源端，所述负极输入端用于连接待测试通道的负电源端

在其中一个实施例中，所述测试电路还包括第二短接接口；所述第二短接接口的两端分别连接所述负极输入端和地；当所述第二短接接口接入所述短接装置时，所述负极输入端接地。

在其中一个实施例中，所述测试电路还包括第一滤波电路，所述第一滤波电路设置在所述第二短接接口的两端之间。

在其中一个实施例中，所述测试电路还包括第二滤波电路，所述第二滤波电路设置于所述正极输入端和地之间。