[发明专利]用于碳化硅器件的屏蔽结构在审
| 申请号: | 202211473483.8 | 申请日: | 2022-11-23 |
| 公开(公告)号: | CN116153984A | 公开(公告)日: | 2023-05-23 |
| 发明(设计)人: | M·海尔;C·伦德茨 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L29/423 | 分类号: | H01L29/423;H01L29/06;H01L29/10;H01L29/16;H01L29/36 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 刘书航;吕传奇 |
| 地址: | 德国瑙伊比*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | 公开了用于碳化硅器件的屏蔽结构。一种碳化硅器件,包括:在碳化硅衬底的第一表面上的平面栅极结构,平面栅极结构具有沿着横向第一方向的栅极长度;第一导电类型的源极区,其在栅极长度的至少一部分上在平面栅极结构下方延伸;第二导电类型的本体区,本体区包括在平面栅极结构下方邻接源极区的沟道区带;以及第二导电类型的屏蔽区,其在至少20%但是小于100%的栅极长度上覆盖沟道区带,其中屏蔽区中的最大掺杂剂浓度高于本体区中的最大掺杂剂浓度。 | ||
| 搜索关键词: | 用于 碳化硅 器件 屏蔽 结构 | ||
【主权项】:
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