[发明专利]用于碳化硅器件的屏蔽结构在审

专利信息
申请号: 202211473483.8 申请日: 2022-11-23
公开(公告)号: CN116153984A 公开(公告)日: 2023-05-23
发明(设计)人: M·海尔;C·伦德茨 申请(专利权)人: 英飞凌科技股份有限公司
主分类号: H01L29/423 分类号: H01L29/423;H01L29/06;H01L29/10;H01L29/16;H01L29/36
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 刘书航;吕传奇
地址: 德国瑙伊比*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 公开了用于碳化硅器件的屏蔽结构。一种碳化硅器件,包括:在碳化硅衬底的第一表面上的平面栅极结构,平面栅极结构具有沿着横向第一方向的栅极长度;第一导电类型的源极区,其在栅极长度的至少一部分上在平面栅极结构下方延伸;第二导电类型的本体区,本体区包括在平面栅极结构下方邻接源极区的沟道区带;以及第二导电类型的屏蔽区,其在至少20%但是小于100%的栅极长度上覆盖沟道区带,其中屏蔽区中的最大掺杂剂浓度高于本体区中的最大掺杂剂浓度。
搜索关键词: 用于 碳化硅 器件 屏蔽 结构
【主权项】:
暂无信息
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