[发明专利]一种控制器芯片测试装置在审
| 申请号： | 202211446952.7 | 申请日： | 2022-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN115718473A | 公开（公告）日： | 2023-02-28 |
| 发明（设计）人： | 程晖;余其涛;董琦 | 申请（专利权）人： | 上海科世达-华阳汽车电器有限公司;科世达（上海）机电有限公司 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 北京信远达知识产权代理有限公司 11304 | 代理人： | 魏晓波 |
| 地址： | 201814 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种控制器芯片测试装置，涉及电力电子技术领域，待测芯片为控制器设计过程中芯片选型后确定的芯片，通过开关控制电路使功能测试芯片在与待测芯片之间的电路导通时向待测芯片的输入引脚注入输入测试信号或者接收待测芯片的输出引脚输出的实际输出信号，并根据接收到的实际输出信号和输出测试信号确定待测芯片的输出引脚的状态，而由待测芯片基于接收到的实际输入信号和输入测试信号确定待测芯片的输入引脚的状态。在待测芯片选型后但未连接外围电路时边进行测试，且通过开关控制电路的控制，不同的待测芯片均进行不同测试功能的测试，降低测试装置的设计成本，且若测试结果为待测芯片故障可直接维修更换，以提高控制器的生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 控制器 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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