[发明专利]一种控制器芯片测试装置

权利要求书

1.一种控制器芯片测试装置，其特征在于，包括待测芯片、开关控制电路以及多个功能测试芯片，所述待测芯片为控制器设计过程中芯片选型后确定的芯片；

所述开关控制电路连接于所述待测芯片和各个所述功能测试芯片之间，用于控制所述待测芯片的输入引脚和/或输出引脚和所述功能测试芯片之间的电路导通；

所述功能测试芯片用于在与所述待测芯片之间的电路导通时向所述待测芯片的输入引脚注入输入测试信号或者接收所述待测芯片的输出引脚输出的实际输出信号，并根据接收到的实际输出信号和所述输出测试信号确定所述待测芯片的输出引脚的状态；

所述待测芯片用于基于接收到的实际输入信号和所述输入测试信号确定所述待测芯片的输入引脚的状态。

2.如权利要求1所述的控制器芯片测试装置，其特征在于，所述开关控制电路包括连接线，用于基于用户的控制将所述待测芯片和个所述功能测试芯片之间的电路连接，以使所述待测芯片的输入引脚和/或输出引脚和所述功能测试芯片之间的电路导通。

3.如权利要求1所述的控制器芯片测试装置，其特征在于，所述开关控制电路包括分别设置于所述待测芯片和各个所述功能测试芯片之间的多个开关，用于在导通时控制所述待测芯片的输入引脚和/或输出引脚和所述功能测试芯片之间的电路导通。

4.如权利要求1所述的控制器芯片测试装置，其特征在于，所述开关控制电路包括开关电路和处理器；

所述处理器用于在检测到所述开关电路的第一端与所述待测芯片的输入引脚和/或输出引脚连接，并且第二端与所述功能测试芯片连接后，控制所述开关电路导通，以使所述待测芯片的输入引脚或输出引脚与所述功能测试芯片之前的电路导通。

5.如权利要求1所述的控制器芯片测试装置，其特征在于，所述功能测试芯片具体用于在所述待测芯片中下载了开发软件后，在与所述待测芯片之间的电路导通时基于所述开发软件的功能向所述待测芯片的输入引脚注入输入测试信号或者接收所述待测芯片的输出引脚输出的实际输出信号，并根据接收到的实际输出信号和所述输出测试信号确定所述待测芯片的输出引脚的状态。

6.如权利要求1所述的控制器芯片测试装置，其特征在于，所述功能测试芯片具体用于在与所述待测芯片之间的电路导通时向所述待测芯片的输入引脚注入输入测试信号或者接收所述待测芯片的输出引脚输出的实际输出信号，并在接收到的实际输出信号和所述输出测试信号一致时确定所述待测芯片的输出引脚为正常状态。

7.如权利要求1所述的控制器芯片测试装置，其特征在于，所述待测芯片具体用于当接收到的所述实际输入信号和所述输入测试信号一致时确定所述待测芯片的输入引脚为正常状态。

8.如权利要求1所述的控制器芯片测试装置，其特征在于，所述功能测试芯片还用于在确定所述待测芯片的输出引脚为异常状态时，向用户进行输出异常提示。

9.如权利要求1所述的控制器芯片测试装置，其特征在于，所述待测芯片还用于在确定所述待测芯片的输入引脚为异常状态时，向用户进行输入异常提示。

10.如权利要求1-9任一项所述的控制器芯片测试装置，其特征在于，多个所述功能测试芯片包括输入功能测试芯片和输出功能测试芯片；

所述输入功能测试芯片用于在与所述待测芯片的输入引脚之间的电路导通时向所述待测芯片的输入引脚注入输入测试信号；

所述输出功能测试芯片用于在与所述待测芯片的输出引脚之间的电路导通时接收所述待测芯片的输出引脚输出的实际输出信号，并根据接收到的实际输出信号和所述输出测试信号确定所述待测芯片的输出引脚的状态。