[发明专利]一种自动化芯片测试装置及其测试方法在审
| 申请号： | 202211441488.2 | 申请日： | 2022-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN115684892A | 公开（公告）日： | 2023-02-03 |
| 发明（设计）人： | 黄永 | 申请（专利权）人： | 中天恒星（上海）科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;B65G17/46;B65G17/30 |
| 代理公司： | 上海海贝律师事务所 31301 | 代理人： | 范海燕 |
| 地址： | 200336 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种自动化芯片测试装置及其测试方法，包括自动化芯片测试机架体，所述自动化芯片测试机架体的上方设有防护罩，所述防护罩的前端设有透明观察窗口。该发明中是采用链条式输送带，在链条式输送带的每节链条内都设有芯片定位槽，通过链条式输送带可以使输送带具有较好的灵活性，每节链条之间都可以随着导向组装座的外形进行变化，使其沿着导向组装座的外形滑动至芯片定位架的上方，具有一个坡度，使中间的某节链条位于最顶端，使芯片定位槽位于顶端与测试探针的位置对齐，从而对测试的芯片进行更好的定位，链条式输送带可以将芯片进行循环输送，与机械手一组一组取放相比，该输送方式更省时省力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 自动化 芯片 测试 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
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