[发明专利]一种自动化芯片测试装置及其测试方法

说明书

本发明公开了一种自动化芯片测试装置及其测试方法，包括自动化芯片测试机架体，所述自动化芯片测试机架体的上方设有防护罩，所述防护罩的前端设有透明观察窗口。该发明中是采用链条式输送带，在链条式输送带的每节链条内都设有芯片定位槽，通过链条式输送带可以使输送带具有较好的灵活性，每节链条之间都可以随着导向组装座的外形进行变化，使其沿着导向组装座的外形滑动至芯片定位架的上方，具有一个坡度，使中间的某节链条位于最顶端，使芯片定位槽位于顶端与测试探针的位置对齐，从而对测试的芯片进行更好的定位，链条式输送带可以将芯片进行循环输送，与机械手一组一组取放相比，该输送方式更省时省力。

技术领域

本发明涉及芯片相关领域，具体为一种自动化芯片测试装置及其测试方法。

背景技术

芯片是指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其它电子设备的一部分，芯片又称微电路、微芯片和集成电路最先进的集成电路是微处理器或多核处理器的核心，可以控制电脑到手机到数字微波炉的一切，存储器和ASIC是其他集成电路家族的例子，对于现代信息社会非常重要。

现有技术中芯片在测试的过程，都是需要机械手对芯片进行一组一组的取放，机械手需要一来一回的过程才能完成更换，比较浪费时间，降低整体测试的效率。

发明内容

本发明的目的在于提供一种自动化芯片测试装置及其测试方法，以解决上述背景技术中提出的机械手需要一来一回的过程才能完成更换，比较浪费时间，降低整体测试的效率的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种自动化芯片测试装置包括自动化芯片测试机架体，所述自动化芯片测试机架体的上方设有防护罩，所述防护罩的前端设有透明观察窗口，所述防护罩的内部的两侧设有侧封板，所述防护罩的内部的顶端设有芯片检测器，所述芯片检测器的内部的下方设有测试探针，所述防护罩的下方位于自动化芯片测试机架体的内部设有导向组装座，所述导向组装座上的两侧设有链条式输送带，所述链条式输送带的两端设有密封壳，所述导向组装座的上方的一端位于测试探针的正下方的位置处设有芯片定位架，所述链条式输送带的每节链条的内部均设有芯片定位槽，且相邻的两个芯片定位槽均通过销轴旋转连接，所述防护罩的一侧设有显示屏。

在进一步的实施例中，所述链条式输送带的一端与密封壳通过主动齿轮盘连接，所述主动齿轮盘与电机连接，且链条式输送带的另一端与密封壳通过传动齿轮盘连接。

在进一步的实施例中，所述芯片定位架的横截面设为梯形结构。

在进一步的实施例中，所述链条式输送带与防护罩连接处的两侧设有定位条，且定位条与链条式输送带滑动连接。

在进一步的实施例中，所述密封壳的底部与自动化芯片测试机架体通过三角支撑板焊接连接，所述自动化芯片测试机架体的底部的两侧设有防滑脚垫，且防滑脚垫与自动化芯片测试机架体通过螺纹固定连接。

在进一步的实施例中，所述芯片定位槽的内部的两侧设有凹口，所述芯片定位槽的内部的底端设有多个凸块，且凸块设为球形结构。

一种自动化芯片测试装置的测试方法，包括以下步骤：

S1：将芯片搁置整齐摆放在链条式输送带的一端的芯片定位槽内

S2：通过电机带动主动齿轮盘旋转带动另一端的传动齿轮盘旋转，使链条式输送带协调旋转，链条式输送带沿着导向组装座的外形向上滑动至芯片定位架的上方，使芯片定位槽位于测试探针的正下方；

S3：通过测试探针对芯片定位槽内的芯片进行测试；

S4：将测试好的芯片向一端进行输送，通过机械手将测试好的芯片进行分类放置。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：