[发明专利]射频电路测试系统和射频电路测试方法在审
| 申请号： | 202211418611.9 | 申请日： | 2022-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN115802369A | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 尹文韬;温立;张小强 | 申请（专利权）人： | 南京英锐创电子科技有限公司 |
| 主分类号： | H04W24/00 | 分类号： | H04W24/00;H04B17/00;H04B17/15;H04B17/29;H01R27/00;H01R31/06;H01R13/66 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 熊文杰 |
| 地址： | 210000 江苏省南京市江北*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种射频电路测试系统和射频电路测试方法。所述系统包括：网络通信模块，用于根据接收的预测试信号生成采集信号；功能转接模块，与所述网络通信模块连接，用于传输所述采集信号；功能采集模块，与所述功能转接模块连接，用于经所述功能转接模块接收所述网络通信模块发送的所述采集信号，并根据所述采集信号获取待测试芯片的测试信息，并将所述测试信息经所述功能转接模块传输至所述网络通信模块；处理模块，与所述网络通信模块连接，用于根据所述待测试芯片的测试属性生成所述预测试信号，以及接收并处理所述测试信息以获取所述待测试芯片的测试结果。采用本系统能够减少测试时间，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 电路 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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