[发明专利]射频电路测试系统和射频电路测试方法在审
| 申请号: | 202211418611.9 | 申请日: | 2022-11-14 |
| 公开(公告)号: | CN115802369A | 公开(公告)日: | 2023-03-14 |
| 发明(设计)人: | 尹文韬;温立;张小强 | 申请(专利权)人: | 南京英锐创电子科技有限公司 |
| 主分类号: | H04W24/00 | 分类号: | H04W24/00;H04B17/00;H04B17/15;H04B17/29;H01R27/00;H01R31/06;H01R13/66 |
| 代理公司: | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 熊文杰 |
| 地址: | 210000 江苏省南京市江北*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 射频 电路 测试 系统 方法 | ||
1.一种射频电路测试系统,其特征在于,用于测试通信芯片的射频性能,所述射频电路测试系统包括:
网络通信模块,用于根据接收的预测试信号生成采集信号;
功能转接模块,与所述网络通信模块连接,用于传输所述采集信号;
功能采集模块,与所述功能转接模块连接,用于经所述功能转接模块接收所述网络通信模块发送的所述采集信号,并根据所述采集信号获取待测试芯片的测试信息,并将所述测试信息经所述功能转接模块传输至所述网络通信模块;
处理模块,与所述网络通信模块连接,用于根据所述待测试芯片的测试属性生成所述预测试信号,以及接收并处理所述测试信息以获取所述待测试芯片的测试结果。
2.根据权利要求1所述的射频电路测试系统,其特征在于,所述功能采集模块包括多个功能板,各所述功能板与各所述待测试芯片连接,用于获取各所述待测试芯片的测试信息。
3.根据权利要求2所述的射频电路测试系统,其特征在于,各所述功能板上设有用于与所述功能转接模块连接的第一通信接口;各所述功能板级联设置。
4.根据权利要求1所述的射频电路测试系统,其特征在于,所述功能转接模块包括:
转接板,设有用于与所述网络通信模块连接的第二通信接口以及与所述功能采集模块连接的第三通信接口;
电源电路,设置在所述转接板上,用于提供多个输出电压。
5.根据权利要求4所述的射频电路测试系统,其特征在于,所述转接板还还设有多个拓展接口,各所述拓展接口用于与所述网络通信模块连接,各所述拓展接口用于接收不同类型的预测试信号。
6.根据权利要求1所述的射频电路测试系统,其特征在于,所述网络通信模块包括:
至少一通信单元,各所述通信单元分别与所述处理模块通信连接;
接口单元,与所述功能转接模块连接。
7.根据权利要求6所述的射频电路测试系统,其特征在于,所述网络通信模块还包括:
处理单元,与各所述通信单元、所述接口单元连接,用于控制各所述通信单元与所述处理模块之间的通信以及接收所述测试信息和所述测试结果;
存储单元,与所述通信单元连接,用于存储所述测试信息和所述测试结果。
8.根据权利要求7所述的射频电路测试系统,其特征在于,所述网络通信模块还包括:
提示单元,与所述处理单元连接;所述提示单元被配置有多种指示状态;
其中,所述处理单元还用于根据所述接口单元与所述功能模块之间的连接方式以及所述通信单元与所述处理模块的连接方式控制所述提示单元的指示状态。
9.一种射频电路测试方法,其特征在于,用于控制权利要求1-8任一项所述的射频电路测试系统,所述方法包括:
根据待测试芯片的测试属性生成预测试信号,以控制网络通信模块生成采集信号获取所述待测试芯片的测试信息;
接收并处理所述测试信息以获取所述待测试芯片的测试结果。
10.根据权利要求9所述的射频电路测试方法,其特征在于,所述根据待测试芯片的测试属性生成预测试信号,以控制网络通信模块生成采集信号获取所述待测试芯片的测试信息包括:
根据所述待测试芯片的测试属性控制所述网络通信模块建立通信请求;
根据通信连接响应信号生成预测试信号。
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