[发明专利]SAR ADC电容阵列的采样及转换方法在审

专利信息
申请号: 202211344935.2 申请日: 2022-10-31
公开(公告)号: CN115642916A 公开(公告)日: 2023-01-24
发明(设计)人: 汪伦;郭向阳 申请(专利权)人: 四川和芯微电子股份有限公司
主分类号: H03M1/38 分类号: H03M1/38;H03M1/12;H03M1/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610041 四川省成都市高新区*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供了一种SARADC电容阵列的采样及转换方法,该方法基于共模电压且采用电容下极板采样方式,其包括如下步骤:a.电容的上极板均连接共模电压,电容的下极板连接差分输入电压;b.各级电容的下极板采样差分输入信号,上极板断开与共模电压的连接;c.断开电容下极板与差分输入电压的连接并与共模电压连接;d.达到建立时间后,比较器对比两输入信号的电压值,并通过对比结果控制MSB位电容下极板的电压连接方式;e.重复b‑d,从MSB位电容开始直到完成LSB位电容下极板的电压连接方式的确定且比较器对比两输入信号的电压值。本发明的方案在同等位数的前提下,整个阵列所需要的总电容值大大减小,缩短了采样和转换的周期,提高了采样和转换的速率。
搜索关键词: sar adc 电容 阵列 采样 转换 方法
【主权项】:
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