[发明专利]一种表征标准单元片上变化参数的方法与系统在审
| 申请号： | 202211335791.4 | 申请日： | 2022-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN115688641A | 公开（公告）日： | 2023-02-03 |
| 发明（设计）人： | 张浩 | 申请（专利权）人： | 南京美辰微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/32 | 分类号： | G06F30/32 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 田凌涛 |
| 地址： | 211899 江苏省南京市江北新*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种表征标准单元片上变化参数的方法与系统，本发明是针对电子电路设计和验证的方法，并且更具体地针对用于表征电子电路设计内的电子元件以用于验证的技术，使用基于自适应灵敏度的分析来建立自适应方程以表示电子元件的时序响应表面。通过构建自适应表面响应，基于样本的评估可以高度准确地提取电子元件时序参数，包括片上变化信息，例如标准差和矩。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 表征 标准 单元 变化 参数 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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