[发明专利]IP核outstanding能力检查方法及装置在审

专利信息
申请号: 202211311535.1 申请日: 2022-10-25
公开(公告)号: CN115600532A 公开(公告)日: 2023-01-13
发明(设计)人: 袁力;胡扬央;张丰 申请(专利权)人: 眸芯科技(上海)有限公司
主分类号: G06F30/3308 分类号: G06F30/3308;G06F115/08
代理公司: 上海图灵知识产权代理事务所(普通合伙) 31393 代理人: 谢微
地址: 201210 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了IP核outstanding能力检查方法及装置,涉及芯片系统仿真测试技术领域。该方法包括步骤:获取各IP核outstanding能力设计值,基于预设数据格式生成包含有所有IP核的outstanding能力设计值的数据文件;在仿真过程中通过各IP核配置的栈存储IP核outstanding计数的最大值;仿真结束时对每个IP核栈的栈顶进行peek操作以返回栈顶数值,得到outstanding能力仿真值;将各IP核outstanding能力仿真值和设计值进行比对以检查是否达到预设要求。本发明实现了IP核outstanding能力的自动检查,检查效率高,可靠性好,且易于实现,适用性广。
搜索关键词: ip outstanding 能力 检查 方法 装置
【主权项】:
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