[发明专利]一种关于半导体生产数据的处理方法及装置在审
| 申请号： | 202211292741.2 | 申请日： | 2022-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN115495493A | 公开（公告）日： | 2022-12-20 |
| 发明（设计）人： | 王晓 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F16/2457 | 分类号： | G06F16/2457;G06F16/248;G06F16/28 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 赵小霞 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种关于半导体生产数据的处理方法及装置，用以实现生成并输出半导体测试项目的测试结果对应的影响因素的推荐报告，从而缩小半导体生产数据的浏览范围，提高对影响半导体测试项目的测试结果的数据的查阅速度，进而提高工作效率。本申请提供的所述方法，包括：生成半导体测试项目的测试结果对应的第一推荐报告和/或第二推荐报告；其中，所述第一推荐报告是基于相关系数生成的推荐报告，所述相关系数是指半导体测试项目的测试结果和产生该测试结果的原因之间的相关系数，所述原因包括半导体生产数据；所述第二推荐报告是基于用户查询半导体生产数据的频率生成的推荐报告；输出所述第一推荐报告和/或所述第二推荐报告。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 关于 半导体 生产 数据 处理 方法 装置 | ||
【主权项】：
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