[发明专利]基于等量衰减参数寻优的CT硬化伪影校正方法及系统在审
| 申请号： | 202211286546.9 | 申请日： | 2022-10-20 |
| 公开（公告）号： | CN115457162A | 公开（公告）日： | 2022-12-09 |
| 发明（设计）人： | 阳庆国;谭伯仲 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院流体物理研究所 |
| 主分类号： | G06T11/00 | 分类号： | G06T11/00 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 李朝虎 |
| 地址： | 621000*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了基于等量衰减参数寻优的CT硬化伪影校正方法及系统，涉及图像处理技术领域，其技术方案要点是：获取多色投影数据；初始化硬化校正函数中的拟合参数，并通过硬化校正函数将每个角度下的多色投影数据映射为相应的等效单色投影数据；对每个角度下的等效单色投影数据求和，计算得到每个角度下的投影总值；以所有角度下的投影总值满足等量衰减建立最优化参数求解模型；利用迭代优化求解方法对最优化参数求解模型进行求解，得到最优参数；依据最优参数更新硬化校正函数中的拟合参数，并通过更新后的硬化校正函数将每个角度下的多色投影数据映射为相应校正后的等效单色投影数据。本发明可改善因多能重建引起的伪影，提升图像重建质量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 等量 衰减 参数 ct 硬化 校正 方法 系统 | ||
【主权项】：
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