[发明专利]基于等量衰减参数寻优的CT硬化伪影校正方法及系统

权利要求书

1.基于等量衰减参数寻优的CT硬化伪影校正方法，其特征是，包括以下步骤：

获取不同角度下对数化后的多色投影数据；

初始化硬化校正函数中的拟合参数，并通过硬化校正函数将每个角度下的多色投影数据映射为相应的等效单色投影数据；

对每个角度下的等效单色投影数据求和，计算得到每个角度下的投影总值；

以所有角度下的投影总值满足等量衰减建立最优化参数求解模型；

利用迭代优化求解方法对最优化参数求解模型进行求解，得到最优参数；

依据最优参数更新硬化校正函数中的拟合参数，并通过更新后的硬化校正函数将每个角度下的多色投影数据映射为相应校正后的等效单色投影数据。

2.根据权利要求1所述的基于等量衰减参数寻优的CT硬化伪影校正方法，其特征是，所述硬化校正函数为多项式模型、指数函数模型和阈值幂指数函数模型中的任意一种。

3.根据权利要求1所述的基于等量衰减参数寻优的CT硬化伪影校正方法，其特征是，所述最优化参数求解模型的建立过程具体为：

计算所有角度下的投影总值的标准差和平均值；

以标准差与平均值的商最小为优化目标建立最优化参数求解模型。

4.根据权利要求1所述的基于等量衰减参数寻优的CT硬化伪影校正方法，其特征是，所述迭代优化求解方法中的收敛条件为参数空间的最大距离小于等于设定阈值。

5.根据权利要求1所述的基于等量衰减参数寻优的CT硬化伪影校正方法，其特征是，所述迭代优化求解方法中的收敛条件为迭代次数达到次数阈值。

6.根据权利要求1所述的基于等量衰减参数寻优的CT硬化伪影校正方法，其特征是，所述迭代优化求解方法为NM单纯形法。

7.根据权利要求1-6任意一项所述的基于等量衰减参数寻优的CT硬化伪影校正方法，其特征是，该方法还包括：

将多色投影数据进行低通滤波处理，分离得到低频图像和高频图像；

依据硬化校正函数对低频图像进行函数映射处理；

将高频图像与映射处理后的低频图像叠加，得到相应的等效单色投影数据。

8.基于等量衰减参数寻优的CT硬化伪影校正系统，其特征是，包括：

数据获取模块，用于获取不同角度下对数化后的多色投影数据；

硬化校正模块，用于初始化硬化校正函数中的拟合参数，并通过硬化校正函数将每个角度下的多色投影数据映射为相应的等效单色投影数据；

投影求和模块，用于对每个角度下的等效单色投影数据求和，计算得到每个角度下的投影总值；

模型构建模块，用于以所有角度下的投影总值满足等量衰减建立最优化参数求解模型；

参数求解模块，用于利用迭代优化求解方法对最优化参数求解模型进行求解，得到最优参数；

投影校正模块，用于依据最优参数更新硬化校正函数中的拟合参数，并通过更新后的硬化校正函数将每个角度下的多色投影数据映射为相应校正后的等效单色投影数据。

9.一种计算机终端，包含存储器、处理器及存储在存储器并可在处理器上运行的计算机程序，其特征是，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-7中任意一项所述的基于等量衰减参数寻优的CT硬化伪影校正方法。

10.一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，其特征是，所述计算机程序被处理器执行可实现如权利要求1-7中任意一项所述的基于等量衰减参数寻优的CT硬化伪影校正方法。