[发明专利]一种环行组件射频链路匹配性能测试方法和系统在审
| 申请号： | 202211282868.6 | 申请日： | 2022-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN115913409A | 公开（公告）日： | 2023-04-04 |
| 发明（设计）人： | 郭星辰;陈敏;徐桐 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司雷华电子技术研究所 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15;H04B17/29;H04B17/309 |
| 代理公司： | 北京清大紫荆知识产权代理有限公司 11718 | 代理人： | 林政 |
| 地址： | 214063 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种环行组件射频链路匹配性能测试方法和系统，用以检测微波器件(集成器件)与环行组件集成后射频链路匹配性能。在微波器件与环行组件集成后，电路无需引出其他射频接口，仅通过对环行组件集成前后S参数测试结果，进行矢量综合，即可得到集成后链路的匹配性能。解决了现有技术中微波器件与环行组件集成前后的匹配性能测试方法复杂、准确度较低的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 环行 组件 射频 匹配 性能 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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