[发明专利]一种非接触测量不透光光学平面零件平行和垂直的方法在审

专利信息
申请号: 202211244446.X 申请日: 2022-10-12
公开(公告)号: CN115683578A 公开(公告)日: 2023-02-03
发明(设计)人: 杨利涛;甄西合;王玉洁 申请(专利权)人: 河南驭波科技有限公司
主分类号: G01M11/08 分类号: G01M11/08;G01B11/26;G01B11/27
代理公司: 苏州德坤知识产权代理事务所(普通合伙) 32523 代理人: 查杰
地址: 465350 河南省信*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明公开了一种非接触测量不透光光学平面零件平行和垂直的方法,采用旋转平台、自准直仪和基准光学四方体测量零件平行抛光面的平行度和垂直抛光面的垂直度,旋转平台能够调整水平度和自转,基准光学四方体摆放在旋转平台表面,自准直仪水平设置在基准光学四方体一侧,测量时,将待测量零件放在基准光学四方体上并保持抛光面与同侧表面基本平行,在自准直仪中同时看到反射像,记录这时两个反射像之间的角度偏差,记录有转动旋转平台,再次通过自准直仪水平捕捉反射像,并记录这时两个反射像之间的角度偏差,通过两次角度偏差计算并判断平行度或垂直度。本发明不受放置误差影响,并且对零件表面没有损伤。
搜索关键词: 一种 接触 测量 不透光 光学 平面 零件 平行 垂直 方法
【主权项】:
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