[发明专利]一种化学机械抛光的在线监测装置在审

专利信息
申请号: 202211239231.9 申请日: 2022-10-11
公开(公告)号: CN115308140A 公开(公告)日: 2022-11-08
发明(设计)人: 杨哲;周远鹏 申请(专利权)人: 杭州众硅电子科技有限公司
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25;G01N21/01;B24B37/013
代理公司: 杭州凯知专利代理事务所(普通合伙) 33267 代理人: 邵志
地址: 311300 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种化学机械抛光的在线监测装置,设于抛光盘内,可随抛光盘转动;其包括光源;光学镜组,用于接收光源发出的光束,产生准直光束;光路转折单元,用于接收准直光束,将其形成入射光路,入射光路透过抛光盘的通光窗口,照射至抛光盘上的晶圆表面,晶圆表面将入射光路反射后经过光路转折单元形成出射光路;探测器,用于接收出射光路,以获取对应的光谱信息,确定晶圆抛光的终点。本发明采用光学镜组缩束准直的方式耦合光源,解决了传统光纤耦合导致的光源光强利用率低的问题;采用信号控制方式调节光源并实时监测光强,保证测量信号的稳定性,提升探测精度,延长光源的使用寿命。
搜索关键词: 一种 化学 机械抛光 在线 监测 装置
【主权项】:
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