[发明专利]一种化学机械抛光的在线监测装置在审

专利信息
申请号: 202211239231.9 申请日: 2022-10-11
公开(公告)号: CN115308140A 公开(公告)日: 2022-11-08
发明(设计)人: 杨哲;周远鹏 申请(专利权)人: 杭州众硅电子科技有限公司
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25;G01N21/01;B24B37/013
代理公司: 杭州凯知专利代理事务所(普通合伙) 33267 代理人: 邵志
地址: 311300 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 化学 机械抛光 在线 监测 装置
【权利要求书】:

1.一种化学机械抛光的在线监测装置,其特征在于:设于抛光盘内,可随抛光盘转动;其包括,

光源;

光学镜组,用于接收光源发出的光束,并产生准直光束;

光路转折单元,用于接收准直光束,并将其形成入射光路,该入射光路透过抛光盘的通光窗口,以照射至抛光盘上的晶圆表面,晶圆表面将入射光路反射后经过光路转折单元形成出射光路;

探测器,用于接收出射光路,以获取对应的光谱信息,确定晶圆抛光的终点。

2.根据权利要求1所述的化学机械抛光的在线监测装置,其特征在于:所述光路转折单元至少包括第一反射镜和第二反射镜,所述入射光路由准直光束经过第一反射镜反射形成,所述入射光路经第二反射镜反射后形成出射光路。

3.根据权利要求2所述的化学机械抛光的在线监测装置,其特征在于:所述第一反射镜和第二反射镜上下错位设置,且位于通光窗口的中心轴线的两侧。

4.根据权利要求1所述的化学机械抛光的在线监测装置,其特征在于:所述光源为宽谱光源,其波长为200-2000nm;所述准直光束的直径为1-10mm

5.根据权利要求1所述的化学机械抛光的在线监测装置,其特征在于:所述探测器为光谱仪。

6.根据权利要求1所述的化学机械抛光的在线监测装置,其特征在于:所述探测器获取对应的光谱信息,转换成晶圆表面介质膜的厚度信息,确定晶圆抛光的终点。

7.根据权利要求1所述的化学机械抛光的在线监测装置,其特征在于:还包括参考光采样单元,其设于光学镜组和光路转折单元之间,用于监测光源的光强。

8.根据权利要求7所述的化学机械抛光的在线监测装置,其特征在于:所述参考光采样单元包括第一分光镜和第二分光镜,所述准直光束经过第一分光镜形成信号光和参考光,所述信号光透过第一分光镜进入光路转折单元。

9.根据权利要求8所述的化学机械抛光的在线监测装置,其特征在于:所述参考光采样单元还包括光强探测器,所述参考光经过第二分光镜反射到达探测器,或到达光强探测器。

10.根据权利要求9所述的化学机械抛光的在线监测装置,其特征在于:还包括控制器,其与光源和探测器、光强探测器相连,用于控制光源的亮灭和光强,并根据探测器获取的光谱信息计算确定晶圆抛光的终点。

11.根据权利要求10所述的化学机械抛光的在线监测装置,其特征在于:所述控制器发出第一控制信号和第二控制信号,该第一控制信号为脉冲信号,用于控制光源的亮灭,该第二控制信号为电平信号,用于控制光源的光强。

12.根据权利要求11所述的化学机械抛光的在线监测装置,其特征在于:所述第一控制信号为脉冲电压值信号,其脉冲宽度为10-100us,脉冲频率为100-1000Hz;所述第二控制信号为可变电压值信号,其电压值为0-5V。

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