[发明专利]一种旋光晶体透过率测量装置及测量方法在审
| 申请号： | 202211192550.9 | 申请日： | 2022-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN115575356A | 公开（公告）日： | 2023-01-06 |
| 发明（设计）人： | 刘城名;朱玲琳;曾爱军;黄惠杰 | 申请（专利权）人： | 上海镭望光学科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/59 | 分类号： | G01N21/59;G01N21/01 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 秦翠翠 |
| 地址： | 201821 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种旋光晶体透过率测量装置及测量方法，测量装置包括：单色器、退偏器、可控旋光器件、光电探测器和控制器；单色器、退偏器、可控旋光器件和光电探测器沿光束传播方向依次设置；待测旋光晶体置于退偏器和可控旋光器件之间的光路中，单色器产生预设波长的单色光，单色光经退偏器后不完全退偏地照射至待测旋光晶体，待测旋光晶体对入射的不完全退偏光束改变其偏振态，可控旋光器件旋转偏振态，光电探测器对经偏振态旋转的光束进行采样以获得测量光束，在光电探测器的采样周期内，可控旋光器件旋转偏振态的旋转角度为90°的N倍。通过对偏振态旋转以达到时域退偏，使得测量光束近似的达到了完全退偏，极大地提高了旋光晶体透过率测量的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶体 透过 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
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