[发明专利]一种基于光强度的波片延迟量及快轴测量方法在审
| 申请号： | 202211192545.8 | 申请日： | 2022-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN115575097A | 公开（公告）日： | 2023-01-06 |
| 发明（设计）人： | 徐磊;朱玲琳;曾爱军;黄惠杰 | 申请（专利权）人： | 上海镭望光学科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01N21/17;G01N21/01 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 秦翠翠 |
| 地址： | 201821 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种基于光强度的波片延迟量及快轴测量方法，包括步骤：将起偏器、检偏器和光强探测器沿光路方向同光轴放置；标定同光轴放置后的0°偏振位置；将待测波片插入起偏器和检偏器之间，将起偏器从0°偏振位置开始旋转一周，产生一组变化的出射光强度曲线，通过光强探测器记录所述一组变化的出射光强度曲线，并对记录的所述一组变化的出射光强度曲线进行曲线拟合，获取待测波片延迟量和快轴角度。由于采用光强度式测量方案，避免了对某一角度下光强度具体值的获取，转而采用曲线拟合的方式进行参数求值；且随着采集信号数目的增多，本申请可实现非常高精度的波片参数测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 强度 延迟 测量方法 | ||
【主权项】：
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