[发明专利]一种基于光强度的波片延迟量及快轴测量方法在审
| 申请号： | 202211192545.8 | 申请日： | 2022-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN115575097A | 公开（公告）日： | 2023-01-06 |
| 发明（设计）人： | 徐磊;朱玲琳;曾爱军;黄惠杰 | 申请（专利权）人： | 上海镭望光学科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01N21/17;G01N21/01 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 秦翠翠 |
| 地址： | 201821 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 强度 延迟 测量方法 | ||
1.一种基于光强度的波片延迟量及快轴测量方法，其特征在于，包括步骤：
将起偏器、检偏器和光强探测器沿光路方向同光轴放置；
标定同光轴放置后的0°偏振位置；
将待测波片插入起偏器和检偏器之间，将起偏器从0°偏振位置开始旋转一周，产生一组变化的出射光强度曲线，通过光强探测器记录所述一组变化的出射光强度曲线，并对记录的所述一组变化的出射光强度曲线进行曲线拟合，获取待测波片延迟量和快轴角度。
2.如权利要求1所述的波片延迟量及快轴测量方法，其特征在于，所述标定同光轴放置后的0°偏振位置，具体包括步骤：保持起偏器、检偏器和光强探测器的位置不变，将起偏器旋转一周，记录出射光强度随起偏器旋转一周所产生的出射光强度曲线，对所述出射光强度曲线进行拟合，将出射光强度曲线的峰值位置设为检偏器的透射方向，并将所述峰值标定为0°偏振位置。
3.如权利要求1所述的波片延迟量及快轴测量方法，其特征在于，所述出射光强度曲线的表达式为：
Iout＝iin[1+(cos22θ+sin22θcosδ)cos2x+sin2θcos2θ(1-cosδ)sin2x]；
其中，Iout为出射光强度，iin为入射光强度，δ为波片延迟量，θ为快轴角度，x为起偏器与X轴之间的夹角，iin、δ和θ均为未知参数。
4.如权利要求1所述的波片延迟量及快轴测量方法，其特征在于，所述起偏器的入射光源为退偏光。
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