[发明专利]一种微观的磁屏蔽装置磁场噪声分析方法在审
| 申请号： | 202211178443.0 | 申请日： | 2022-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN115752705A | 公开（公告）日： | 2023-03-07 |
| 发明（设计）人： | 马丹跃;孙博文;翟跃阳;陆吉玺;马彦宁;王耀国;全伟;韩邦成 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01H17/00 | 分类号： | G01H17/00;G01R33/12;G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人： | 吴小灿 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种微观的磁屏蔽装置磁场噪声分析方法，通过制备磁屏蔽材料样品，测量磁屏蔽材料的晶粒大小和复数磁导率，构建所述晶粒大小与所述复数磁导率的拟合模型，构建基于磁屏蔽材料晶粒大小的磁屏蔽装置磁场噪声分析模型，测量晶粒大小以分析磁屏蔽装置的磁场噪声，不需要对成型的磁屏蔽装置进行参数测量，可用于低噪声磁屏蔽材料的选择和设计。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微观 屏蔽 装置 磁场 噪声 分析 方法 | ||
【主权项】：
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