[发明专利]半导体器件及其制备方法、存储器以及存储系统在审
| 申请号: | 202211035645.X | 申请日: | 2022-08-26 |
| 公开(公告)号: | CN115295496A | 公开(公告)日: | 2022-11-04 |
| 发明(设计)人: | 颜丙杰 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
| 主分类号: | H01L21/8242 | 分类号: | H01L21/8242;H01L27/108 |
| 代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 赵翠萍;浦彩华 |
| 地址: | 430074 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本公开实施例提供了一种半导体器件及其制备方法、存储器以及存储系统,该半导体器件的制备方法包括:提供衬底,衬底包括多个有源区,每个有源区沿第一方向延伸,多个有源区沿第二方向排布,第一方向和第二方向相交且均平行于衬底所在平面;从衬底的第一面刻蚀衬底,以在衬底中形成多个第一沟槽,第一沟槽沿第一方向延伸,第一沟槽位于相邻两个有源区之间,并且暴露相邻两个有源区的第一侧壁,第一侧壁包括沿第三方向排布且相互接触的第一部分和第二部分,第二部分和第一沟槽的底部连接,第三方向垂直于衬底所在平面;在第一沟槽内,形成覆盖第二部分的位线;填充第一沟槽,形成第一隔离结构。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体器件 及其 制备 方法 存储器 以及 存储系统 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





