[发明专利]半导体器件及其制备方法、存储器以及存储系统在审

专利信息
申请号: 202211035645.X 申请日: 2022-08-26
公开(公告)号: CN115295496A 公开(公告)日: 2022-11-04
发明(设计)人: 颜丙杰 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L21/8242 分类号: H01L21/8242;H01L27/108
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 赵翠萍;浦彩华
地址: 430074 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本公开实施例提供了一种半导体器件及其制备方法、存储器以及存储系统,该半导体器件的制备方法包括:提供衬底,衬底包括多个有源区,每个有源区沿第一方向延伸,多个有源区沿第二方向排布,第一方向和第二方向相交且均平行于衬底所在平面;从衬底的第一面刻蚀衬底,以在衬底中形成多个第一沟槽,第一沟槽沿第一方向延伸,第一沟槽位于相邻两个有源区之间,并且暴露相邻两个有源区的第一侧壁,第一侧壁包括沿第三方向排布且相互接触的第一部分和第二部分,第二部分和第一沟槽的底部连接,第三方向垂直于衬底所在平面;在第一沟槽内,形成覆盖第二部分的位线;填充第一沟槽,形成第一隔离结构。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制备 方法 存储器 以及 存储系统
【主权项】:
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