[发明专利]一种半导体结构及存储器有效

专利信息
申请号: 202211003680.3 申请日: 2022-08-22
公开(公告)号: CN115084273B 公开(公告)日: 2022-11-22
发明(设计)人: 曺奎锡 申请(专利权)人: 睿力集成电路有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/10
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 王花丽;胡春光
地址: 230601 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 本公开实施例公开了一种半导体结构。所述半导体结构包括:衬底和位于所述衬底中的隔离结构,所述隔离结构在所述衬底中限定出有源区,所述有源区包括源极区、漏极区和沟道区;栅极,所述栅极覆盖所述沟道区;其中,所述栅极包括沿第一方向延伸的主体部,所述源极区和所述漏极区位于所述主体部在第二方向上的两侧,所述第二方向垂直于所述第一方向;所述沟道区包括位于所述主体部正下方的第一沟道区,在所述第一沟道区与所述隔离结构之间的界面处,所述第一沟道区具有凹陷。
搜索关键词: 一种 半导体 结构 存储器
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