[发明专利]一种计及芯片影响的设备可靠性确定方法及系统在审
| 申请号： | 202210954669.9 | 申请日： | 2022-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN115374619A | 公开（公告）日： | 2022-11-22 |
| 发明（设计）人： | 李伟;舒治淮;刘宇;李仲青;薛安成;王文焕;张晓莉;夏烨;孟江雯;景子洋 | 申请（专利权）人： | 中国电力科学研究院有限公司;国家电网有限公司;华北电力大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G01R31/28;H02H1/00;G06F119/02 |
| 代理公司： | 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 | 代理人： | 刘爱丽 |
| 地址： | 100192 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种计及芯片影响的设备可靠性确定方法及系统，包括：基于历史数据进行统计分析，确定不同阶段的第一设备失效率；基于不同阶段的第一设备失效率，确定不同阶段的第一板卡失效率；基于所述第一设备失效率、第一板卡失效率和第一芯片失效率确定协变量函数；基于目标设备厂家采用的芯片，确定第二芯片失效率；基于目标设备厂家的板卡设计工艺和制造工艺能力，确定第二板卡失效率；基于所述第二芯片失效率、第二板卡失效率和协商变量函数确定目标设备厂家的第二设备失效率，以基于第二设备失效率进行设备可靠性评估。本发明能够为国产芯片的二次设备可靠性提供量化评估依据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 影响 设备 可靠性 确定 方法 系统 | ||
【主权项】：
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