[发明专利]一种计及芯片影响的设备可靠性确定方法及系统

权利要求书

1.一种计及芯片影响的设备可靠性确定方法，其特征在于，所述方法包括：

基于历史数据进行统计分析，确定不同阶段的第一设备失效率；

基于不同阶段的第一设备失效率，确定不同阶段的第一板卡失效率；

基于所述第一设备失效率、第一板卡失效率和第一芯片失效率确定协变量函数；

基于目标设备厂家采用的芯片，确定第二芯片失效率；

基于目标设备厂家的板卡设计工艺和制造工艺能力，确定第二板卡失效率；

基于所述第二芯片失效率、第二板卡失效率和协商变量函数确定目标设备厂家的第二设备失效率，以基于第二设备失效率进行设备可靠性评估。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于不同阶段的第一设备失效率，确定不同阶段的第一板卡失效率，包括：

将设备进行分解，通过解析法，设备由板卡串联构成，由设备失效率推导出板卡失效率。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一设备失效率、第一板卡失效率和芯片失效率确定协变量函数，包括：

λ_设备(t)＝Aλ_板卡(t)+Bλ_芯片p(t)+C，

其中，λ_设备(t)为第一设备失效率；λ_板卡(t)为第一板卡失效率；λ_芯片p(t)为第一芯片失效率；A为板卡-设备的影响系数；B为芯片-设备的影响系数；C为与芯片本身失效率相关的系数；n为某个板卡中芯片总数；C_cc为不同板卡采用同类芯片之间失效影响系数；λ_芯片b为芯片基本失效率；m为影响系数的个数；影响系数包括以下中的至少一个：质量系数、环境系数、应用系数、电压应力系数、额定功率或额定电流系数、结构系数、温度应力系数、阻值系数、电容量系数、成熟系数和引出端系数。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将所述协变量函数中的协变量参数依据芯片变化、板卡变化的影响关系进行分类，得出分别对应的归一化的影响因子A、1+B，1+B对应于芯片成熟系数π_L求解下述公式得到A和B的数值：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于目标设备厂家采用的芯片，确定第二芯片失效率，包括：

所述第二芯片失效率由芯片厂家提供，若芯片厂家不能提供，则根据国产芯片与进口芯片的成熟度关系，参考进行量化评估，得出国产芯片失效率与进口芯片的失效率关系，从而确定第二芯片失效率。

6.一种计及芯片影响的设备可靠性确定系统，其特征在于，所述系统包括：

第一设备失效率确定单元，用于基于历史数据进行统计分析，确定不同阶段的第一设备失效率；

第一板卡失效率确定单元，用于基于不同阶段的第一设备失效率，确定不同阶段的第一板卡失效率；

协变量函数确定单元，用于基于所述第一设备失效率、第一板卡失效率和第一芯片失效率确定协变量函数；

第二芯片失效率确定单元，用于基于目标设备厂家采用的芯片，确定第二芯片失效率；

第二板卡失效率确定单元，用于基于目标设备厂家的板卡设计工艺和制造工艺能力，确定第二板卡失效率；

设备可靠性确定单元，用于基于所述第二芯片失效率、第二板卡失效率和协商变量函数确定目标设备厂家的第二设备失效率，以基于第二设备失效率进行设备可靠性评估。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述第一板卡失效率确定单元，基于不同阶段的第一设备失效率，确定不同阶段的第一板卡失效率，包括：

将设备进行分解，通过解析法，设备由板卡串联构成，由设备失效率推导出板卡失效率。