[发明专利]用于存储装置的测试模块在审
| 申请号： | 202210868110.4 | 申请日： | 2022-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN115856566A | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 张伦;俞尚根;方光奎;尹吉重;崔松礼;崔载奎 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人： | 李娜;王占杰 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于存储装置的测试模块包括：板；设置在所述板上的测试板，所述测试板包括接收部分，待测试的存储装置将插入到所述接收部分中；传感器，具有设置在所述接收部分的内表面上的多个开关，所述多个开关可操作为由于所述存储装置被插入到所述接收部分中而接通；以及多个柱塞，设置在所述内表面上以接触并支撑所述存储装置。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 存储 装置 测试 模块 | ||
【主权项】：
暂无信息
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