[发明专利]用于存储装置的测试模块在审
| 申请号: | 202210868110.4 | 申请日: | 2022-07-22 |
| 公开(公告)号: | CN115856566A | 公开(公告)日: | 2023-03-28 |
| 发明(设计)人: | 张伦;俞尚根;方光奎;尹吉重;崔松礼;崔载奎 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G11C29/56 |
| 代理公司: | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人: | 李娜;王占杰 |
| 地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 存储 装置 测试 模块 | ||
一种用于存储装置的测试模块包括:板;设置在所述板上的测试板,所述测试板包括接收部分,待测试的存储装置将插入到所述接收部分中;传感器,具有设置在所述接收部分的内表面上的多个开关,所述多个开关可操作为由于所述存储装置被插入到所述接收部分中而接通;以及多个柱塞,设置在所述内表面上以接触并支撑所述存储装置。
相关申请的交叉引用
本申请要求于2021年9月23日在韩国知识产权局(KIPO)提交的韩国专利申请No.10-2021-0125578的优先权,其全部内容通过引用整体并入本文。
技术领域
示例实施例涉及用于存储装置的测试模块。更具体地,示例实施例涉及包括用于识别是否安装了存储装置的传感器的用于存储装置的测试模块。
背景技术
在测试诸如固态硬盘(SSD)的存储装置时,可能发生诸如温度变化、气流变化等的测试环境的变化,从而待测试的存储装置可能无法稳固地安装在测试板上。当存储装置未稳固地安装在测试板上时,可能出现诸如静电放电(ESD)和电磁干扰(EMI)的现象,因此,对存储装置的测试的可靠性劣化。
发明内容
示例实施例提供了一种能够防止/减少在将存储装置安装到测试板上时的故障的用于存储装置的测试模块。
根据示例实施例,一种用于存储装置的测试模块包括:板;设置在所述板上的测试板,所述测试板包括接收部分,待测试的存储装置将插入到所述接收部分中;传感器,具有设置在所述接收部分的内表面上的多个开关,所述多个开关可操作为由于所述存储装置被插入到所述接收部分中而接通;以及多个柱塞,设置在所述内表面上以接触并支撑所述存储装置。
根据示例实施例,一种用于存储装置的测试模块包括板:板;设置在所述板上的测试板,所述测试板包括接收部分,待测试的存储装置将插入到所述接收部分中;壳体,围绕所述测试板设置在所述板上,以保护所述测试板免受外部影响;以及相机,面对所述测试板安装在所述壳体中,所述相机被配置为拍摄所述存储装置。
根据示例实施例,一种用于存储装置的测试模块包括:板;设置在所述板上的测试板,所述测试板包括接收部分,待测试的存储装置将插入到所述接收部分中;传感器,具有多个开关,所述多个开关设置在所述接收部分的内表面上,并且可操作为由于所述存储装置被插入到所述接收部分中而接通;多个柱塞,设置在所述内表面上以接触并支撑所述存储装置;壳体,围绕所述测试板设置在所述板上,以保护所述测试板免受外界影响;以及相机,面对所述测试板设置在所述壳体中,所述相机被配置为拍摄所述存储装置,以确认所述存储装置是否稳固地插入到堆叠接收部分中。
因此,用于存储装置的测试模块可以使用传感器来确认存储装置是否安装在测试板上,并且用于存储装置的测试模块可以通过使用柱塞来防止存储装置在存储装置的插入过程中被推回。此外,测试模块可以使用壳体去除外部干扰因素,测试模块可以通过使用相机扫描标签信息或引脚编号来控制每个产品的评估测试实例,并且测试模块可以检查存储装置是否被稳固地安装。
附图说明
根据以下结合附图进行的详细描述,将更清楚地理解示例实施例。图1至图14表示如本文描述的非限制性的示例实施例。
图1是示出根据示例实施例的用于存储装置的测试设备的透视图。
图2和图3是示出根据示例实施例的用于存储装置的测试模块的透视图。
图4是示出图3中的测试板的透视图。
图5至图9是示出根据示例实施例的传感器和多个柱塞的操作过程的视图。
图10和图11是示出根据示例实施例的壳体和相机的操作过程的透视图。
图12至图14是示出根据示例实施例的容纳存储装置的容器的视图。
具体实施方式
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