[发明专利]一种光模块双闭环验证数据处理方法及相关设备在审

专利信息
申请号: 202210826335.3 申请日: 2022-07-14
公开(公告)号: CN115435897A 公开(公告)日: 2022-12-06
发明(设计)人: 郑海江;陈哲;高泉川;黄秋伟 申请(专利权)人: 厦门优迅高速芯片有限公司
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00;G01M11/02
代理公司: 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427 代理人: 庄吴敏
地址: 361008 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了光模块双闭环验证数据处理方法及相关设备,其中方法包括:温度数据处理步骤,分别获取光功率及消光比在温度变化下的数据并进行稳定性计算,得到第一计算结果;双闭环调试数据处理步骤,在预设可调范围和调节步进数据,进行针对消光比和光功率的双向验证计算,得到第二计算结果;失锁数据处理步骤,在多种码型及多种占空比下,获取光模块的失锁数据;评价步骤,根据第一计算结果、第二计算结果和失锁数据,判断光模块双闭环验证结果。通过上述方法能全面覆盖双闭环的工作情况,验证双闭环性能、排查双闭环是否出现失锁的问题,从而达到可靠的双闭环验证的技术效果。
搜索关键词: 一种 模块 闭环 验证 数据处理 方法 相关 设备
【主权项】:
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