[发明专利]一种光模块双闭环验证数据处理方法及相关设备

说明书

本发明公开了光模块双闭环验证数据处理方法及相关设备，其中方法包括：温度数据处理步骤，分别获取光功率及消光比在温度变化下的数据并进行稳定性计算，得到第一计算结果；双闭环调试数据处理步骤，在预设可调范围和调节步进数据，进行针对消光比和光功率的双向验证计算，得到第二计算结果；失锁数据处理步骤，在多种码型及多种占空比下，获取光模块的失锁数据；评价步骤，根据第一计算结果、第二计算结果和失锁数据，判断光模块双闭环验证结果。通过上述方法能全面覆盖双闭环的工作情况，验证双闭环性能、排查双闭环是否出现失锁的问题，从而达到可靠的双闭环验证的技术效果。

技术领域

本发明涉及光模块测试技术,特别涉及一种光模块双闭环验证数据处理方法及相关设备。

背景技术

光模块(optical module)由光电子器件、功能电路和光接口等组成，光电子器件包括发射和接收两部分。简单的说，光模块的作用就是发送端把电信号转换成光信号，通过光纤传送后，接收端再把光信号转换成电信号。

目前光模块的光功率和消光比很多都采用闭环控制。消光比闭环控制就是在不同的温度下加载的调制电流由驱动芯片自身控制，不需要制作调制电流温度补偿表，对光器件的一致性要求也较低。因此双闭环，即：光功率和消光比都采用闭环控制，具有工作量小、消光比稳定性高、生产调试简单等优点。目前双闭环已被广泛应用于多种类型的光模块中。

然而，双闭环的应用有一定的风险，就是需要防止光功率、消光比出现不受控制的情况(简称失锁)。一旦出现失锁的情况，严重的情况将导致丢包，甚至出现掉线等严重后果。因此如何全面的验证双闭环，并进行数据处理，是亟待解决的问题。

发明内容

本发明的目的在于，通过本发明光模块双闭环验证数据处理方法，不仅能够全面的覆盖双闭环的各种验证情况，并准确验证光模块双闭环性能、排查双闭环失锁情况，从而达到可靠的双闭环验证效果。

一种光模块双闭环验证数据处理方法，包括如下步骤：

温度数据处理步骤，分别获取光功率及消光比在温度变化下的数据并进行稳定性计算，得到第一计算结果；

双闭环调试数据处理步骤，在预设可调范围和调节步进数据，进行针对消光比和光功率的双向验证计算，得到第二计算结果；

失锁数据处理步骤，在多种码型及多种占空比下，获取光模块的失锁数据；

评价步骤，根据第一计算结果、第二计算结果和失锁数据，判断光模块双闭环验证结果。

优选地，所述双闭环调试数据处理步骤具体实现为：

进行双闭环下消光比的可调范围测试，以验证目标光功率下，消光比的可调范围；

调节光功率至下限及上限，以验证消光比的可调范围。

优选地，所述失锁数据处理步骤中，通过误码仪获取码型指令，以验证是否出现光模块的失锁情况。

优选地，所述失锁数据处理步骤中，采用误码仪或者函数信号发生器，控制突发使能信号的使能时间，以控制发光周期和发光的占空比，以验证是否出现光模块的失锁情况。

优选地，在光路上出现反射光时，当反射光中加入可调光衰时，确定不同大小反射光下光模块双闭环的工作数据。

优选地，进行双闭环下消光比的可调范围测试，以验证目标光功率下，消光比的可调范围具体实现为：

在光模块为双闭环工作模式时，调节光功率达到目标光功率中间值，调节双闭环消光比档位，包括：

粗调最大档与细调最大档，对应最大消光比；

粗调最小档与细调最小档对应最小消光比，记录消光比的可调范围；