[发明专利]一种动态卡控的芯片差分单元测试方法及装置在审
| 申请号： | 202210784901.9 | 申请日： | 2022-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN115116528A | 公开（公告）日： | 2022-09-27 |
| 发明（设计）人： | 秦佳敏;周川淼 | 申请（专利权）人： | 普冉半导体（上海）股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/50;G01R31/303;G01R19/00 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人： | 童素珠 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新区中国*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体晶圆测试领域，提供了一种动态卡控的芯片差分单元测试方法，包括：设置三个测试档位；以所述三个测试档位进行卡控，对待测芯片差分单元进行测试，以获得每个所述待测芯片差分单元的电压和电流对应的数值；将所述待测芯片差分单元的电压和电流对应的数值，与基准真值表进行比较，以获取所述待测芯片差分单元的测试结果。本发明通过设置档位进行动态卡控，以及设置真值表进行自动校验，实现对芯片差分单元的测试，防止过杀良品芯片差分单元。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 动态 芯片 单元测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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